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            EEPW首頁 >> 主題列表 >> verilog-hdl

            ChipDesign ISE 11 設(shè)計(jì)工具視點(diǎn)

            •   作為一個(gè)負(fù)責(zé)FPGA 企業(yè)市場(chǎng)營銷團(tuán)隊(duì)工作的人,我不得不說,由于在工藝技術(shù)方面的顯著成就以及硅芯片設(shè)計(jì)領(lǐng)域的獨(dú)創(chuàng)性,F(xiàn)PGA 正不斷實(shí)現(xiàn)其支持片上系統(tǒng)設(shè)計(jì)的承諾。隨著每一代新產(chǎn)品的推出,F(xiàn)PGA 在系統(tǒng)中具有越來來越多的功能,可作為協(xié)處理器、DSP 引擎以及通信平臺(tái)等,在某些應(yīng)用領(lǐng)域甚至還可用作完整的片上系統(tǒng)。   因此,在摩爾定律的作用下,F(xiàn)PGA 產(chǎn)業(yè)的門數(shù)量不斷增加,性能與專門功能逐漸加強(qiáng),使得 FPGA 在電子系統(tǒng)領(lǐng)域能夠取代此前只有 ASIC 和 ASSP 才能發(fā)揮的作用。不過,說到底,F(xiàn)
            • 關(guān)鍵字: xilinx  FPGA  VHDL  Verilog  

            Altium加快其軟件更新步伐

            •   Altium繼續(xù)在其下一代電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)軟件Altium Designer中提供新功能,幫助電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)人員站在新科技和潮流的最前沿。   Altium公司首席執(zhí)行官Nick Martin表示:“我們認(rèn)為,讓用戶等待每隔數(shù)年才更新一次版本的產(chǎn)業(yè)模型已經(jīng)完全不符合當(dāng)前的需求。”   此次最重要的新特性是基于網(wǎng)絡(luò)的軟件許可證管理和訪問選項(xiàng)。它使電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)人員能夠有效地管理設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)、工作量及項(xiàng)目。   Altium Designer中的其他新特性包括針對(duì)板卡級(jí)設(shè)計(jì)人員的定制FP
            • 關(guān)鍵字: Altium  電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)  FPGA  HDL  

            基于Verilog HDL的DDS設(shè)計(jì)與仿真

            • 直接數(shù)字頻率合成技術(shù)(Direct Digital Synthesize,DDS)是繼直接頻率合成技術(shù)和鎖相式頻率合成技術(shù)之后的第三代頻率合成技術(shù)。它采用全數(shù)字技術(shù),并從相位角度出發(fā)進(jìn)行頻率合成。隨著微電子技術(shù)和數(shù)字集成電路的飛速
            • 關(guān)鍵字: Verilog  HDL  DDS  仿真    

            基于Verilog HDL數(shù)字電位器ADN2850的串口控制

            • 摘要:數(shù)字電位器由于可調(diào)精度高,更穩(wěn)定,定位更準(zhǔn)確,操作更方便,數(shù)據(jù)可長(zhǎng)期保存和隨時(shí)刷新等優(yōu)點(diǎn),在某些場(chǎng)合具有模擬電位器不可比擬的優(yōu)勢(shì)。論述對(duì)數(shù)字電位器ADN2850的一種方便的控制方法,通過計(jì)算機(jī)上的串口直
            • 關(guān)鍵字: 串口  控制  ADN2850  數(shù)字電位器  Verilog  HDL  基于  

            首屆中國開源IP核標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì)競(jìng)賽啟動(dòng)

            •   在工信部電子信息司的指導(dǎo)下,工業(yè)和信息化部軟件與集成電路促進(jìn)中心(CSIP )聯(lián)合集成電路IP核標(biāo)準(zhǔn)工作組,現(xiàn)面向全國集成電路設(shè)計(jì)企業(yè)工程師、科研院所及高校師生,舉辦2009年“首屆中國開源IP核標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì)競(jìng)賽”,競(jìng)賽報(bào)名工作已于6月3日啟動(dòng)。報(bào)名及詳情咨詢可登錄競(jìng)賽官方網(wǎng)站 http://www.ipmall.org.cn了解。據(jù)悉本次競(jìng)賽獲獎(jiǎng)?wù)呖煞謩e獲得現(xiàn)金1萬元、5千元等獎(jiǎng)勵(lì),針對(duì)學(xué)生參賽者有機(jī)會(huì)獲得到IBM中國芯片設(shè)計(jì)中心實(shí)習(xí)的機(jī)會(huì)!   參賽者可以個(gè)人或團(tuán)隊(duì)(不高于
            • 關(guān)鍵字: CSIP  VHDL  Verilog  

            基于Verilog計(jì)算精度可調(diào)的整數(shù)除法器的設(shè)計(jì)

            • 0 引 言
              除法器是電子技術(shù)領(lǐng)域的基礎(chǔ)模塊,在電子電路設(shè)計(jì)中得到廣泛應(yīng)用。目前,實(shí)現(xiàn)除法器的方法有硬件實(shí)現(xiàn)和軟件實(shí)現(xiàn)兩種方法。硬件實(shí)現(xiàn)的方法主要是以硬件的消耗為代價(jià),從而有實(shí)現(xiàn)速度快的特點(diǎn)。用硬件的方
            • 關(guān)鍵字: Verilog  計(jì)算  精度可調(diào)  整數(shù)除法器    

            基于Verilog的FPGA與USB 2.0高速接口設(shè)計(jì)

            • 0 引 言
              USB(通用串行總線)是英特爾、微軟、IBM、康柏等公司1994年聯(lián)合制定的一種通用串行總線規(guī)范,它具有數(shù)據(jù)傳輸速度快,成本低,可靠性高,支持即插即用和熱插拔等優(yōu)點(diǎn),迅速得到廣泛應(yīng)用。
              在高速的數(shù)
            • 關(guān)鍵字: Verilog  FPGA  USB  高速接口    

            NI FlexRIO是否必須使用FPGA模塊

            • NILabVIEWFPGA模塊可以幫助您利用LabVIEW程序框圖對(duì)一個(gè)FPGA進(jìn)行編程。在其底層,該模塊采用代碼生成技術(shù)實(shí)...
            • 關(guān)鍵字: NI  LabVIEW  FPGA  HDL  COTS  

            基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)電機(jī) 速度控制器的SOPC系統(tǒng)

            • 針對(duì)機(jī)器人伺服控制系統(tǒng)高速度、高精度的要求,介紹一種全數(shù)字化的基于神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)控制的直流電機(jī)速度伺服控制系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方案。速度控制器采用BP網(wǎng)絡(luò)參數(shù)辨識(shí)自適應(yīng)控制,并將其在FPGA進(jìn)行硬件實(shí)現(xiàn);同時(shí)用Nios II軟核處理器作為上位機(jī),構(gòu)成一個(gè)完整的速度伺服控制器的片上可編程系統(tǒng)(SOPC)。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,該控制系統(tǒng)具有較高的控制精度、較好的穩(wěn)定性和靈活性。
            • 關(guān)鍵字: SOPC  系統(tǒng)  控制器  速度  神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)  電機(jī)  基于  神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)   伺服控制   現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列   Verilog HDL  

            基于Verilog的順序狀態(tài)邏輯FSM設(shè)計(jì)與仿真

            基于Verilog-HDL的軸承振動(dòng)噪聲電壓峰值檢測(cè)

            • 引言   在軸承生產(chǎn)行業(yè)中,軸承振動(dòng)噪聲的峰值檢測(cè)是一項(xiàng)重要的指標(biāo)。以往,該檢測(cè)都是采用傳統(tǒng)的模擬電路方法,很難做到1:1地捕捉和保持較窄的隨機(jī)波形的最大正峰值。本文敘述了基于Verilog-HDL與高速A/D轉(zhuǎn)換器相結(jié)合所實(shí)現(xiàn)的快速軸承噪聲檢測(cè)方法。   1 振動(dòng)噪聲電壓峰值檢測(cè)方案的確定   1.1 軸承振動(dòng)噪聲的產(chǎn)生及檢測(cè)   圖1是軸承振動(dòng)噪聲電壓峰值檢測(cè)系統(tǒng)的示意圖。由于加工設(shè)備、技術(shù)、環(huán)境等因素的影響,生產(chǎn)的軸承都程度不同地帶有傷疤。圖1中,假設(shè)某待測(cè)軸承有一處傷疤。由于傷痕的存在,軸
            • 關(guān)鍵字: Verilog  軸承  振動(dòng)噪聲  電壓峰值檢測(cè)  

            基于SystemC的系統(tǒng)級(jí)芯片設(shè)計(jì)方法研究

            •   隨著集成電路制造技術(shù)的迅速發(fā)展,SOC設(shè)計(jì)已經(jīng)成為當(dāng)今集成電路設(shè)計(jì)的發(fā)展方向。SO C設(shè)計(jì)的復(fù)雜性對(duì)集成電路設(shè)計(jì)的各個(gè)層次,特別是對(duì)系統(tǒng)級(jí)芯片設(shè)計(jì)層次,帶來了新挑戰(zhàn),原有的HDL難以滿足新的設(shè)計(jì)要求。   硬件設(shè)計(jì)領(lǐng)域有2種主要的設(shè)計(jì)語言:VHDL和Verilog HDL。而兩種語言的標(biāo)準(zhǔn)不統(tǒng)一,導(dǎo)致軟硬件設(shè)計(jì)工程師之間工作交流出現(xiàn)障礙,工作效率較低。因此,集成電路設(shè)計(jì)界一直在尋找一種能同時(shí)實(shí)現(xiàn)較高層次的軟件和硬件描述的系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)語言。Synopsys公司與Coware公司針對(duì)各方對(duì)系統(tǒng)級(jí)設(shè)計(jì)語言的
            • 關(guān)鍵字: SOC  SystemC  集成電路  VHDL  Verilog HDL  

            基于Verilog HDL的異步FIFO設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

            •   在現(xiàn)代IC設(shè)計(jì)中,特別是在模塊與外圍芯片的通信設(shè)計(jì)中,多時(shí)鐘域的情況不可避免。當(dāng)數(shù)據(jù)從一個(gè)時(shí)鐘域傳遞到另一個(gè)域,并且目標(biāo)時(shí)鐘域與源時(shí)鐘域不相關(guān)時(shí),這些域中的動(dòng)作是不相關(guān)的,從而消除了同步操作的可能性,并使系統(tǒng)重復(fù)地進(jìn)入亞穩(wěn)定狀態(tài)[1]。在有大量的數(shù)據(jù)需要進(jìn)行跨時(shí)鐘域傳輸且對(duì)數(shù)據(jù)傳輸速度要求比較高的場(chǎng)合,異步FIFO是一種簡(jiǎn)單、快捷的解決方案。   異步FIFO用一種時(shí)鐘寫入數(shù)據(jù),而用另外一種時(shí)鐘讀出數(shù)據(jù)。讀寫指針的變化動(dòng)作由不同的時(shí)鐘產(chǎn)生。因此,對(duì)FIFO空或滿的判斷是跨時(shí)鐘域的。如何根據(jù)異步的指針
            • 關(guān)鍵字: FIFO  異步  Verilog HDL  IC  亞穩(wěn)態(tài)  

            HDL設(shè)計(jì)探究

            • 一.可移植性編碼 1.只使用IEEE標(biāo)準(zhǔn)類型(VHDL):(1)使用STD_LOGIC類型,而不是STD_ULOGIC類型;(2)設(shè)計(jì)中不要?jiǎng)?chuàng)建過多的的子類型;(3)不要使用BIT和BIT_VECTOR類型。 2.不使用立即數(shù):在設(shè)計(jì)中,不要使用立即數(shù)(但作為例外,可使用0和1),推薦使用常量。使用常量有以下優(yōu)點(diǎn):(1)常量對(duì)于一個(gè)設(shè)計(jì)具有更多的靈活性;(2)常量值只需要在一個(gè)地方修改;(3)編譯器可能只支持常量類型,不支持立即數(shù)。 3.對(duì)于VHDL程序,把常數(shù)和參數(shù)定義在由1個(gè)或多個(gè)文件組成的程序
            • 關(guān)鍵字: HDL 設(shè)計(jì) 可編程  

            一種基于FPGA的準(zhǔn)單輸入調(diào)變序列生成器設(shè)計(jì)

            •   1.引言   隨著集成電路復(fù)雜度越來越高,測(cè)試開銷在電路和系統(tǒng)總開銷中所占的比例不斷上升,測(cè)試方法的研究顯得非常突出。目前在測(cè)試源的劃分上可以采用內(nèi)建自測(cè)試或片外測(cè)試。內(nèi)建自測(cè)試把測(cè)試源和被測(cè)電路都集成在芯片的內(nèi)部,對(duì)于目前SOC級(jí)的芯片測(cè)試如果采用內(nèi)建自測(cè)試則付出的硬件面積開銷則是很大的,同時(shí)也增加了芯片設(shè)計(jì)的難度:因此片外測(cè)試便成為目前被普遍看好的方法。由于FPGA具有可重構(gòu)的靈活性,利用FPGA來作為測(cè)試源實(shí)現(xiàn)片外測(cè)試就是一種非常有效的手段。   由于偽隨機(jī)模式測(cè)試只需要有限個(gè)數(shù)的輸入向量便
            • 關(guān)鍵字: 嵌入式系統(tǒng)  單片機(jī)  FPGA  序列生成器  Verilog  HDL  MCU和嵌入式微處理器  
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            verilog-hdl介紹

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