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      EEPW首頁 >> 主題列表 >> 損耗

      G652D光纖宏彎損耗測試方法

      •   光纖宏彎損耗測試,在國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T9771.3-2008中描述為:光纖以30mm半徑松繞100圈,在1625nm測得的宏彎損耗應(yīng)不超過0.1dB。  而注2中描述:為了保證彎曲損耗易于測量和測量準(zhǔn)確度,可用1圈或幾圈小半徑環(huán)光纖代
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      集成開關(guān)器的反激式電源的低損耗設(shè)計

      •   1)序言 文章介紹如何設(shè)計電路,減低采用IRIS40xx系列集成開關(guān)器的反激式電源中的空載和待機(jī)狀態(tài)損耗。要達(dá)到此目的,可以利用一個根據(jù)負(fù)載情況轉(zhuǎn)換IRIS器件的工作模式的電路。準(zhǔn)諧振模式(Quasi-resonant mo
      • 關(guān)鍵字: 設(shè)計  損耗  電源  開關(guān)  集成  

      光纖在應(yīng)用中的損耗

      • 光纖傳輸損耗的產(chǎn)生原因是多方面的,在光纖通信網(wǎng)絡(luò)的建設(shè)和維護(hù)中,最值得關(guān)注的是光纖使用中引起傳輸損耗的原因以及如何減少這些損耗。光纖使用中引起的傳輸損耗主要有接續(xù)損耗(光纖的固有損耗、熔接損耗和活動接
      • 關(guān)鍵字: 損耗  應(yīng)用  光纖  

      降低電感磁芯損耗的解決方案

      •   您是否有過為降壓穩(wěn)壓器充電、進(jìn)行滿功率測試,隨后在進(jìn)行電感指端溫度測試時留下了永久(燙傷)印記的經(jīng)歷呢?或許過高的磁芯損耗和交流繞組損耗就是罪魁禍?zhǔn)?。?100-kHz 開關(guān)頻率下,一般不會出現(xiàn)任何問題,這是
      • 關(guān)鍵字: 解決方案  損耗  電感  降低  

      如何減少電源損耗實現(xiàn)電源效率最大化

      •   我們建議使用如下輸出電流函數(shù)來計算電源損耗:下一步是利用上述簡單表達(dá)式,并將其放入效率方程式中:這樣,輸出電流的效率就得到了優(yōu)化(具體論證工作留給學(xué)生去完成)。這種優(yōu)化可產(chǎn)生一個有趣的結(jié)果。當(dāng)輸出電
      • 關(guān)鍵字: 電源  效率  最大化  實現(xiàn)  損耗  減少  如何  

      電源電路損耗問題的解決方案

      •   您是否曾詳細(xì)計算過設(shè)計中的預(yù)計組件損耗,結(jié)果卻發(fā)現(xiàn)與實驗室測量結(jié)果有較大出入呢?本電源設(shè)計小貼士介紹了一種簡便方法,以幫助您消除計算結(jié)果與實際測量結(jié)果之間的差異。該方法基于泰勒級數(shù)展開式,其中規(guī)定(
      • 關(guān)鍵字: 解決方案  問題  損耗  電路  電源  

      新型IGBT軟開關(guān)在應(yīng)用中的損耗

      • 本文介紹了集成續(xù)流二極管(FWD)的1200V RC-IGBT,并將探討面向軟開關(guān)應(yīng)用的1,200V逆導(dǎo)型IGBT所取得的重大技術(shù)進(jìn)步。IGBT技術(shù)進(jìn)步主要體現(xiàn)在兩個方面:通過采用和改進(jìn)溝槽柵來優(yōu)化垂直方向載流子濃度,以及利用“場終
      • 關(guān)鍵字: IGBT  軟開關(guān)  損耗    

      低損耗軟開關(guān)Boost變換器

      • 摘要:介紹一種新的軟開關(guān)Boost變換器。傳統(tǒng)的Boost變換器在開通和關(guān)斷時將產(chǎn)生開關(guān)損耗,因此使整個系統(tǒng)的效率下降。新的Boost變換器利用軟開關(guān)方法增加了輔助開關(guān)管和諧振電路。這樣,相比硬開關(guān)情況下,變換器減小
      • 關(guān)鍵字: 變換器  Boost  開關(guān)  損耗  

      微帶線的基礎(chǔ)知識

      • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
      • 關(guān)鍵字: 微帶線  相速  波長  損耗  

      電源EMI濾波器插入損耗的研究

      • 本文將探討電源EMI濾波器插入損耗的計算,以及影響插入損耗的各種原因和改進(jìn)方法。
      • 關(guān)鍵字: 損耗  研究  插入  濾波器  EMI  電源  

      有源鉗位正激變換器的功率損耗分析

      • 摘要:本文詳細(xì)闡述了有源鉗位正激變換器的工作原理,分析了各工作模態(tài)的功率損耗,得出了功率損耗與勵磁電感間的關(guān)系。經(jīng)理論推導(dǎo)證明存在著一個最優(yōu)的勵磁電感值,可以使得變換器功率損耗最小,輸出效率最高。 敘詞
      • 關(guān)鍵字: 分析  損耗  功率  變換器  有源  

      MOSFET開關(guān)軌跡線的示波器重現(xiàn)方法

      • MOSFET的開關(guān)軌跡線是判斷MOSFET開關(guān)過程“軟硬”程度的重要評估指標(biāo),MOSFET的軟硬程度對于開關(guān)電源的性...
      • 關(guān)鍵字: MOSFET  損耗  開關(guān)  動態(tài)  截至  飽和  

      基于MOCCCⅡ的N階電流模式濾波器的設(shè)計

      • 本文僅用n+2個有源CCCⅡ器件、n個接地電容及兩個電阻方便地構(gòu)成低通、帶通、高通、帶阻及全通類型的n階濾波 ...
      • 關(guān)鍵字:   損耗  低通  無源  帶通  

      關(guān)于光纖接續(xù)損耗測試以及分析

      •   摘要:本文介紹光纖接續(xù)損耗產(chǎn)生的原因,光纖接續(xù)損耗測試的原理以及幾種測試方法的應(yīng)用和計算,較為系統(tǒng)的闡述了光纖接續(xù)損耗測試的科學(xué)方法。    光纖接續(xù)損耗是光纖通信系統(tǒng)性能指標(biāo)中的一項重要參數(shù),損耗值的大小直接影響到光傳輸系統(tǒng)的整體傳輸質(zhì)量,在光纜施工和維護(hù)測試中,運用科學(xué)的測試分析方法,對提高整個光纜接續(xù)施工質(zhì)量和維護(hù)工作極其重要,尤其是進(jìn)一步研究光通信中長波長的單模光纖的通信性能、傳輸衰耗、測量精度和檢查維修等方面有一定現(xiàn)實意義。 一、 光纖接續(xù)損耗分析   1、 光
      • 關(guān)鍵字: 測量  測試  光纖  接續(xù)  損耗  

      RECOM R-78XX系列低功耗電源轉(zhuǎn)換器應(yīng)用指南

      • Recom的R-78xx系列從根本上解決了由于輸入電壓不穩(wěn)定,引起的輸入電壓和輸出電壓差值較大,所導(dǎo)致較大的內(nèi)部損...
      • 關(guān)鍵字: 穩(wěn)定  損耗  SIP  穩(wěn)壓  
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