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            利用AMSVF進行混合信號SoC的全芯片驗證

            作者:李煒 李濤 宋磊 時間:2008-07-14 來源:電子設(shè)計應(yīng)用 收藏

              的快速包絡(luò)分析功能提供了對模擬/電路進行模擬和設(shè)計的有效方法。任何包含已調(diào)制信號的電路或RF部分都可以通過快速包絡(luò)分析法進行模擬,而電路的其它部分則由數(shù)字求解器或傳統(tǒng)的瞬態(tài)模擬法進行仿真。包括數(shù)字和模擬電路在內(nèi)的所有仿真都在每個時間步長進行同步,它考慮了各仿真之間的耦合,并確保解決方案的精確性??焖侔j(luò)分析可以跳過時鐘周期中的很多時點,減少大量的時間步長數(shù),簡化計算量。

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/85650.htm

              以圖3中完整的RF電路為例,它包含了發(fā)射器、接收器和ADC/DAC Verilog-AMS模塊。與瞬態(tài)分析相比,快速包絡(luò)分析可以通過極小的精確性損失讓性能提高7倍。兩種方法的波形對比如圖4所示,來自快速包絡(luò)的最后一個波形跳過了很多周期。

            圖3 完整的RF電路和ADC/DAC行為模塊

              結(jié)語

              已經(jīng)被證明是一種針對復(fù)雜電路進行全芯片驗證的有效而強大的工具。它不僅提供了靈活的應(yīng)用模式,還包括更加先進而強大的功能,能夠幫助更多的用戶在設(shè)計的初期階段發(fā)現(xiàn)設(shè)計錯誤,縮短設(shè)計周期,實現(xiàn)一次性流片成功。


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