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            EEPW首頁 > EDA/PCB > 設(shè)計應(yīng)用 > 化學(xué)機械拋光 Slurry 的蛻與進(jìn)

            化學(xué)機械拋光 Slurry 的蛻與進(jìn)

            作者: 時間:2009-05-31 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            Slurry的發(fā)展與蛻變

            “CMP技術(shù)非常復(fù)雜,牽涉眾多的設(shè)備、耗材、工藝等,可以說CMP本身代表了半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的眾多挑戰(zhàn)?!卑布㈦娮拥腃EO王淑敏博士說,“主要的挑戰(zhàn)是影響CMP工藝和制程的諸多變量,而且這些變量之間的關(guān)系錯綜復(fù)雜。其次是CMP的應(yīng)用范圍廣,幾乎每一關(guān)鍵層都要求用到CMP進(jìn)行平坦化。不同應(yīng)用中的研磨過程各有差異,往往一個微小的機臺參數(shù)或耗材的變化就會帶來完全不同的結(jié)果,的選擇也因此成為CMP工藝的關(guān)鍵之一?!?P> CMP技術(shù)所采用的設(shè)備及消耗品包括:拋光機、、拋光墊、后CMP清洗設(shè)備、拋光終點檢測及工藝控制設(shè)備、廢物處理和檢測設(shè)備等。其中和拋光墊為消耗品。Praxair的研發(fā)總監(jiān)黃丕成博士介紹說,一個完整的CMP工藝主要由拋光、后清洗和計量測量等部分組成。拋光機、slurry和拋光墊是CMP工藝的3大關(guān)鍵要素,其性能和相互匹配決定CMP能達(dá)到的表面平整水平(圖2)。



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