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基于新型MEMS開關提高SoC測試能力及系統(tǒng)產(chǎn)出
- 先進的數(shù)字處理器IC要求通過單獨的DC參數(shù)和高速數(shù)字自動測試設備(ATE)測試,以達到質(zhì)保要求。這帶來了很大的成本和組織管理挑戰(zhàn)。本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關如何助力一次性通過單插入測試,以幫助進行DC參數(shù)測試和高速數(shù)字測試,從而降低測試成本,簡化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測試流程。圖1.操作員將負載板安裝到測試儀上,以測試數(shù)字SoC ATE挑戰(zhàn)半導體市場在不斷發(fā)展,為5G調(diào)制解調(diào)器IC、圖像處理IC和中央處理IC等先進的處理器提供速度更快、密度更高的芯片間通信。在這種
- 關鍵字: MEMS開關 SoC測試
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