用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)
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作者：
時(shí)間：2008-04-10
來(lái)源：電子產(chǎn)品世界
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功能測(cè)試系統(tǒng)通過(guò)連接到測(cè)試儀I/O資源的并行I/O模塊提供到UUT外設(shè)接口連接器的接入。在這種配置中，采用在可單獨(dú)應(yīng)用邊界掃描系統(tǒng)和內(nèi)電路測(cè)試儀中用的同樣程序。
本文引用地址：http://www.biyoush.com/article/81439.htm不同測(cè)試系統(tǒng)的I/O資源控制通過(guò)混合掃描驅(qū)動(dòng)器實(shí)現(xiàn)，混合掃描驅(qū)動(dòng)器用ATE軟/硬件接口邊界掃描軟件和測(cè)試儀配置。
結(jié)語(yǔ)
HYSCAN給出不同板級(jí)ATE中集成邊界掃描的另一方案。這一方案為不同的測(cè)試通道類(lèi)型、精確的測(cè)試結(jié)果和測(cè)試覆蓋范圍統(tǒng)計(jì)之間提供便攜性。UUT和測(cè)試I/O資源不必為了測(cè)試程序產(chǎn)生的目的而融合，而邊界掃描測(cè)試開(kāi)發(fā)與測(cè)試適配器類(lèi)型和執(zhí)行的測(cè)試系統(tǒng)無(wú)關(guān)。HYSCAN限于數(shù)字I/O，它能提供到混合信號(hào)測(cè)試的擴(kuò)展。(益林)
評(píng)論