用在各種ATE中的集成邊界掃描(06-100)
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對于測試圖形，無論通過I/O模塊或內(nèi)電路測試器的測試通道提供I/O都沒有關(guān)系?；?a class="contentlabel" href="http://www.biyoush.com/news/listbylabel/label/UUT">UUT網(wǎng)表產(chǎn)生測試程序，而網(wǎng)描述對測試儀I/O資源是可接入的。測試儀配置文件和連線表提供測試儀I/O到UUT網(wǎng)的實際分配信息。只有測試儀配置和連線表需要適配實際的測試裝置，而測試程序本身是不需要適配的。
本文引用地址：http://www.biyoush.com/article/81439.htm 圖4示出采用測試儀I/O資源的邊界掃描實例。此實例包含可獨(dú)立應(yīng)用邊界掃描系統(tǒng)、內(nèi)電路測試系統(tǒng)和功能測試系統(tǒng)的3種測試儀配置。
只需要一套測試程序，可以在所有3個測試系統(tǒng)中執(zhí)行同樣的測試，因為測試程序中I/O圖形尋址是由自測試儀配置控制的。在該實例中，可獨(dú)立應(yīng)用的邊界掃描系統(tǒng)包括PXI邊界掃描控制器，帶192通道的PXI數(shù)字I/O模塊、PXI電源通道連接UUT上的外設(shè)接口連接器。測試程序控制UUT的掃描鏈和I/O模塊的測試通道。
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