數(shù)字器件測試

　　數(shù)字電路器件測試需要專門的器件測試方案和將待測器件從周圍器件或鄰近總線中隔離開的方案。制定器件測試方案需要獲取一系列用于器件輸入的已知的邏輯狀態(tài)和期望產(chǎn)生的一系列器件輸出狀態(tài)。這些被稱作測試矢量的輸入和輸出信號組合，通常反映出器件的真值表狀態(tài)。為了能測量器件的性能，需要在對數(shù)字電路器件的測試過程中為器件上電和接地。

　　一般來說，數(shù)字器件測試過程實(shí)際上是按以下順序執(zhí)行的一系列測試過程：

　　·在對總線器件實(shí)施完全的測試之前實(shí)施非總線的集成電路器件測試。

　　·試圖通過懸空所有的連在總線器件上的總線來執(zhí)行總線的連線測試。

　　數(shù)字電路器件測試通常需要大量同步輸入輸出的測試矢量。因此，用于數(shù)字器件測試的測試部件由大量相關(guān)的驅(qū)動(dòng)/感應(yīng)器電路構(gòu)成。雖然在編寫測試程序時(shí)可以將每個(gè)驅(qū)動(dòng)/感應(yīng)器電路(Driver/Sensors，D/S)看成是一一對應(yīng)地連接到每根測針上，但實(shí)際的驅(qū)動(dòng)/感應(yīng)器電路的數(shù)量是遠(yuǎn)少于可用的測針數(shù)的。系統(tǒng)軟件會(huì)自動(dòng)地調(diào)度安排驅(qū)動(dòng)/感應(yīng)器電路與(由繼電器陣列組成的)多路復(fù)用系統(tǒng)之間的通路，從而將所有的測針與相應(yīng)的驅(qū)動(dòng)/感應(yīng)器電路相連。因此，這也就意味著測試程序?qū)嶋H上不可能同時(shí)占用所有的測針，并且在任一時(shí)間內(nèi)測試程序僅僅需要占用略多于250根的測針。

　　每組驅(qū)動(dòng)/感應(yīng)器電路實(shí)際上包含了內(nèi)置的和連到高低邏輯驅(qū)動(dòng)電壓上的可編程的上拉和下拉電阻。這些電阻一般用來簡化發(fā)射極開路輸出和集電極開路輸出的感應(yīng)過程。

　　在總線測試中，首先用下拉電阻將總線信號拉低。如果下拉電阻能將總線信號帶到一個(gè)低電位，就可以認(rèn)為總線處于一個(gè)高阻抗?fàn)顟B(tài)，或者至少是處在一個(gè)高阻值的范圍內(nèi)。而那些可編程的上拉電阻被連接到高邏輯電壓，并且用來檢查總線信號的邏輯高電平。采用這兩項(xiàng)測試的目的是為了檢測是否有器件在低電平時(shí)驅(qū)動(dòng)總線。

　　每個(gè)驅(qū)動(dòng)器的輸出信號一般起到一個(gè)可編程的電壓源的作用，產(chǎn)生由測試程序決定的高低電壓。為了測試開路集電極、開路發(fā)射極和三態(tài)器件，驅(qū)動(dòng)/感應(yīng)器電路能在一對拉高拉低電阻間切換。感應(yīng)器只是一個(gè)電壓比較器，它對超出某個(gè)程序指定閾值的所有電壓返回邏輯1，對低于程序指定的另一個(gè)閾值的電壓返回邏輯0。落在兩個(gè)閾值之間的值必定是在最高值和最低值之間。

　　需要采用大量的電路允許的輸入信號組合來引導(dǎo)數(shù)字器件的測試過程，但不能測試那些被固定在高電位或低電位的輸入信號，也不能單獨(dú)測試那些與其他信號綁定在一起的輸入信號。采用真值表或測試矢量的集合，測試系統(tǒng)能夠根據(jù)預(yù)期的狀態(tài)值檢測輸出狀態(tài)。在某些情況下，可以特別指定器件在測試過程中的電壓和電流參數(shù)，就如同規(guī)定信號延遲一樣。然而，對一般的數(shù)字器件測試而言，與其說是對電路參數(shù)的檢測，不如說是檢測器件的邏輯功能。

　　混合器件測試

　　混合電路器件的測試程序通常同時(shí)包含模擬電路測試過程和數(shù)字電路測試過程?；旌掀骷y試程序支持對復(fù)合器件進(jìn)行測試，復(fù)合器件是被當(dāng)作函數(shù)來進(jìn)行測試的(如濾波器和脈寬模塊等)。其它混合電路器件還包括可編程增益放大器和模數(shù)轉(zhuǎn)換器。GR228X測試系統(tǒng)能夠生成混合器件測試程序。為了測量器件或器件組，混合器件測試程序可采用系統(tǒng)中的任何測試儀表來實(shí)施測試過程。