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      EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 在線測(cè)試

      現(xiàn)代化制造策略推動(dòng)ICT在線測(cè)試持續(xù)精進(jìn)

      • 印刷電路板組件(PCBA)制造商依靠在線測(cè)試(ICT)系統(tǒng)來(lái)檢測(cè)制造工藝和元器件中存在的缺陷。制造商傾向于使用?ICT?系統(tǒng)來(lái)測(cè)試電子組件,因?yàn)檫@種系統(tǒng)不僅易于編程、能夠輕松識(shí)別各種故障,還具有測(cè)試吞吐量高、誤報(bào)率低以及故障診斷準(zhǔn)確度高等諸多優(yōu)勢(shì)。近年來(lái),PCBA?技術(shù)持續(xù)進(jìn)步,測(cè)試?yán)砟畈粩嘌葸M(jìn),制造業(yè)的業(yè)務(wù)模式也在不停轉(zhuǎn)變,由此帶來(lái)的一系列影響使得ICT?系統(tǒng)的行業(yè)格局發(fā)生了重大變化。這些變化為ICT制造商提出了諸多新的、多樣化的要求,促使其不斷探尋破局之道。尤為
      • 關(guān)鍵字: 現(xiàn)代化制造  ICT  在線測(cè)試  

      在線測(cè)試技術(shù)的現(xiàn)狀和發(fā)展(二)

      • 2.3 數(shù)字器件的測(cè)量  首先,我們要回顧一下數(shù)字器件的特點(diǎn),數(shù)字器件只有2種電平:高電平和低電平,所以測(cè)試程 ...
      • 關(guān)鍵字: 在線測(cè)試  

      在線測(cè)試技術(shù)的現(xiàn)狀和發(fā)展(一)

      • 1 引言  在線測(cè)試曾作為組裝后PCB測(cè)試的主導(dǎo)技術(shù)而占據(jù)市場(chǎng)絕對(duì)優(yōu)勢(shì),但隨著電子組裝技術(shù)的發(fā)展,PCB的密度 ...
      • 關(guān)鍵字: 在線測(cè)試  

      面向未來(lái)的測(cè)試解決方案

      • 以往,通常只有兩種自動(dòng)測(cè)試方法:在線測(cè)試(ICT)和功能性測(cè)試。隨著過(guò)去幾年內(nèi)PC性能的大幅提升,涌現(xiàn)出了...
      • 關(guān)鍵字: 測(cè)試  在線測(cè)試  架構(gòu)  

      在線測(cè)試技術(shù)的現(xiàn)狀和發(fā)展

      • 1 引言在線測(cè)試曾作為組裝后PCB測(cè)試的主導(dǎo)技術(shù)而占據(jù)市場(chǎng)絕對(duì)優(yōu)勢(shì),但隨著電子組裝技術(shù)的發(fā)展,PCB的密度越來(lái)越高,測(cè)試點(diǎn)間距越來(lái)越小,測(cè)試點(diǎn)數(shù)量越來(lái)越多,這一切都給傳統(tǒng)的測(cè)試技術(shù)帶來(lái)挑戰(zhàn),加之各種新型測(cè)試技
      • 關(guān)鍵字: 在線測(cè)試  發(fā)展    

      PCB LAYOUT工程師必須了解ICT飛針在線測(cè)試

      • 作為一個(gè)PCB LAYOUT工程師必須了解ICT飛針在線測(cè)試,這樣對(duì)在PCB設(shè)計(jì)過(guò)程中加測(cè)試點(diǎn)的意義就很清楚了。很多公 ...
      • 關(guān)鍵字: PCB  LAYOUT工程師  ICT  在線測(cè)試  

      單片機(jī)在線測(cè)試系統(tǒng)

      單片機(jī)應(yīng)用電路板的故障診斷方法及實(shí)現(xiàn)

      • 【摘 要】 采用單片機(jī)仿真技術(shù)和程控自動(dòng)探針測(cè)試技術(shù)進(jìn)行了單片機(jī)應(yīng)用電路板的在線測(cè)試及故障診斷的設(shè)計(jì) ...
      • 關(guān)鍵字: 單片機(jī)  仿真測(cè)試  故障診斷  在線測(cè)試  

      幾種蓄電池在線測(cè)試技術(shù)比較分析

      • 一、蓄電池落后的原因及檢測(cè)重要 閥控式鉛酸蓄電池(VRLA)從一開(kāi)始便被稱(chēng)為免維護(hù)電池,而生產(chǎn)廠家又承諾該電池的使用壽命為10 ~ 20年(最少為8年),這樣就給我們電力系統(tǒng)維護(hù)人員一種誤解,似乎這種電池既耐用又完
      • 關(guān)鍵字: 分析  比較  技術(shù)  在線測(cè)試  蓄電池  

      一種基于SoPC的FPGA在線測(cè)試方法

      • 摘要:針對(duì)Altera公司現(xiàn)有FPGA在線測(cè)試方法無(wú)法適應(yīng)大批量測(cè)試/激勵(lì)數(shù)據(jù)自動(dòng)傳輸?shù)那闆r,論文提出了一種基于SoPC的FPGA在線測(cè)試方法,該方法采用Nios II控制數(shù)據(jù)傳輸過(guò)程、DMA協(xié)助數(shù)據(jù)傳輸、FIFO作為數(shù)據(jù)暫存,采用
      • 關(guān)鍵字: SoPC  FPGA  在線測(cè)試  方法    

      掛式空調(diào)器用控制板的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)研究

      • 本文介紹了掛式空調(diào)器用控制板在生產(chǎn)過(guò)程中采用專(zhuān)門(mén)自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)過(guò)程,詳細(xì)說(shuō)明了掛式空調(diào)器用控制板主要功能測(cè)試所用到的硬件電路和軟件結(jié)構(gòu),對(duì)研究線路板自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)有借鑒意義。
      • 關(guān)鍵字: 測(cè)試儀  在線測(cè)試  功能測(cè)試  上位機(jī)  201005  

      信號(hào)處理機(jī)的高速ADC模塊動(dòng)態(tài)性能在線測(cè)試

      基于MSP430的軌道電路在線測(cè)試儀設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)

      GR228X在線測(cè)試(06-100)

      •   前言   GR228X在線測(cè)試系統(tǒng)(簡(jiǎn)稱(chēng)GR228X測(cè)試系統(tǒng)或GR228X系統(tǒng)),是目前在線測(cè)試系統(tǒng)中以自動(dòng)程序控制見(jiàn)長(zhǎng)的典型的板測(cè)試系統(tǒng)。它采用高精度的測(cè)試診斷技術(shù)對(duì)印刷線路板實(shí)施快速的電子測(cè)試,是由計(jì)算機(jī)控制的組合測(cè)試系統(tǒng)。該類(lèi)系統(tǒng)運(yùn)行在基于Microsoft Windows操作系統(tǒng)的軟件平臺(tái)上,配備了多種所需的軟硬件部件。   GR228X在線測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)   圖1示出GR228X測(cè)試系統(tǒng)的總體結(jié)構(gòu)部件。   GR228X在線測(cè)試系統(tǒng)由多種專(zhuān)門(mén)的單元模塊和部件構(gòu)成。系統(tǒng)設(shè)備內(nèi)部的
      • 關(guān)鍵字: 貝爾  在線測(cè)試  GR228X  

      安捷倫設(shè)計(jì)制造商推出低成本在線測(cè)試系統(tǒng)

      • 安捷倫為需要“剛好夠用”的設(shè)計(jì)制造商(ODM)推出一種低成本在線測(cè)試系統(tǒng)。這一新系統(tǒng)提供了一種經(jīng)濟(jì)的方式,在測(cè)試大批量消費(fèi)性電子產(chǎn)品和個(gè)人電腦主板時(shí)實(shí)現(xiàn)了最高的信心。 制造缺陷分析儀(MDA)測(cè)試系統(tǒng)和其它在線測(cè)試(ICT)系統(tǒng)大多采用安捷倫開(kāi)創(chuàng)的上一代TestJet技術(shù),與此不同的是,Medalist i1000提供了安捷倫尖端的VTEP v2.0無(wú)矢量測(cè)試套件。VTEP v2.0由屢獲大獎(jiǎng)的iVTEP和新型網(wǎng)絡(luò)參數(shù)測(cè)量技術(shù)(NPM)組成,為微型球柵陣列和倒裝芯片提供了空前
      • 關(guān)鍵字: 安捷倫  測(cè)量  測(cè)試  在線測(cè)試  
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