在位于系統(tǒng)主機(jī)板上的嵌入式掃描控制器件的控制下，這些向量通過總體掃描鏈發(fā)送。這種系統(tǒng)級(jí)基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)可用于執(zhí)行從靜態(tài)結(jié)構(gòu)測(cè)試到嵌入式以BIST速度的測(cè)試。這也可以在現(xiàn)場(chǎng)更新可編程邏輯器件中的系統(tǒng)操作固件和配置碼的修改版本。

　　用商用軟件工具，在實(shí)踐中實(shí)現(xiàn)所設(shè)計(jì)的理論性測(cè)試方法是可能的。這要考慮不同系統(tǒng)級(jí)結(jié)構(gòu)的支持以及系統(tǒng)接口器件和測(cè)試配置的各種組合。

　　外部控制

　　圖4給出在采用外部控制器時(shí)測(cè)試向量開發(fā)的數(shù)據(jù)流程，外部控制器包括配備PCI邊界掃描控制卡的PC。一旦進(jìn)行測(cè)試的檢驗(yàn)，同樣的測(cè)試向量格式存儲(chǔ)在閃存中，在掃描主機(jī)的控制下廣播到系統(tǒng)的從機(jī)板/模件。

　　圖4示出在嵌入式系統(tǒng)主機(jī)測(cè)試處理器的控制下NS公司的ScanEASE軟件驅(qū)動(dòng)器如何用于控制向量傳遞。嵌入式向量來自同一ATPG(自動(dòng)測(cè)試程序產(chǎn)生器)輸出，這原來是為外部邊界掃描測(cè)試開發(fā)的。其他測(cè)試總線控制器廠家(如Firecron公司)也提供類似的驅(qū)動(dòng)器。