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            消除測試設(shè)備對射頻器件測量影響

            作者: 時(shí)間:2012-02-27 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
            設(shè)備失配仍然是誤差來源。失配誤差的主要來源是從同軸線纜到微帶線的過渡,這發(fā)生在每個(gè)端口的連接器處。該失配不能通過同軸校準(zhǔn)來去除,這是因?yàn)槠涑霈F(xiàn)在同軸校準(zhǔn)平面之后。

              可以通過在過渡處采用良好質(zhì)量的邊緣突出的連接器減小反射來提高精度,并在中具有良好的50歐姆傳輸線。港口擴(kuò)展技術(shù)提供了良好的效果,并具有中等水平的精度。盡管并不和使用高質(zhì)量設(shè)備內(nèi)部校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)一樣精確,它仍是迄今為止較為容易在設(shè)備內(nèi)部測試器件的方法,并為多種應(yīng)用提供了足夠的精度。

              APE技術(shù)采用了曲線擬合過程來計(jì)算低階損耗和相位響應(yīng)。同時(shí),該算法容許失配紋波,其不會去除紋波本身。大多數(shù)情況下,只需一個(gè)高反射標(biāo)準(zhǔn)來精確計(jì)算損耗和延誤響應(yīng)。只用一個(gè)高反射標(biāo)準(zhǔn)來要求的頻率范圍足夠?qū)?,以便反?a class="contentlabel" href="http://www.biyoush.com/news/listbylabel/label/測量">測量中的紋波通過至少有一個(gè)完整周期。在這種情況下,可以使用最方便的標(biāo)準(zhǔn),這往往是開路的。采用兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)對寬帶測量而言差別不大,這是由于當(dāng)使用開路或短路時(shí),紋波中出現(xiàn)的標(biāo)準(zhǔn)或經(jīng)過計(jì)算的損耗是一樣的。使用兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)來提高窄帶測量的精度,其中并不會出現(xiàn)完整的紋波周期。圖3中所示的更低軌跡的表示了在采用APE之前,的一部分響應(yīng)。上面的軌跡表明了在采用APE后的響應(yīng)。損耗補(bǔ)償可能以0dB誤差為中心(棕色軌跡),或?qū)⒓y波峰值保持在0dB以下(藍(lán)色軌跡)。

              

            消除測試設(shè)備對射頻器件測量影響

              圖4表示了平衡到不平衡5.5GHz無線本地網(wǎng)(WLAN)濾波器測試到10GHz的響應(yīng)。表示了在自動端口擴(kuò)展工具欄內(nèi),測試設(shè)備之一的端口延遲和損耗項(xiàng)。該值由安捷倫PNA網(wǎng)絡(luò)分析儀自動計(jì)算。下面的兩個(gè)軌跡表示了沒有端口擴(kuò)展的DUT測量。沒有端口擴(kuò)展,測量包括了DUT和測試設(shè)備。失真響應(yīng)是由于沒有相位補(bǔ)償(尤其重要的是對平衡端口),并沒有對PCB上該傳輸線的損耗進(jìn)行補(bǔ)償。具有端口擴(kuò)展,嚴(yán)重誤差由于測試設(shè)備被去除,并為WLAN濾波器的實(shí)際性能提供了相當(dāng)高的精度。

              

            消除測試設(shè)備對射頻器件測量影響

              測試設(shè)備去嵌入是更為嚴(yán)格的建模技術(shù)。該過程一開始就建立DUT所使用的測試設(shè)備的模型。模型的精度直接影響去嵌入測量的精度。去嵌入被用于消除測試設(shè)備、適配器和探頭的不良影響。替代簡單地減去電長度和插入損耗,去嵌入使用經(jīng)過建模的響應(yīng)來作為頻率的函數(shù),并采用數(shù)學(xué)從測量中去除測試設(shè)備的影響。不同于端口擴(kuò)展,去嵌入去除了同軸線到微帶線過渡的失配影響。測試設(shè)備電路的S參數(shù)存儲在一個(gè).s2p文件格式中。

              創(chuàng)建測試設(shè)備.s2p模型的最簡單方式就是采用測量探頭,其可以與該測試設(shè)備中傳輸線的DUT端點(diǎn)實(shí)現(xiàn)接口(圖5)。這種情況下,用戶在測試設(shè)備一側(cè)實(shí)現(xiàn)了一個(gè)使用同軸標(biāo)準(zhǔn)的未知的通過校準(zhǔn),并使用了測試設(shè)備另一側(cè)的探頭阻抗標(biāo)準(zhǔn)基板(ISS)。測試設(shè)備的傳輸線是未知的路徑。經(jīng)過校準(zhǔn)后,測試設(shè)備只被簡單測量,并未移動探頭或同軸線纜。測量過程對測試設(shè)備的每個(gè)部分反復(fù)進(jìn)行,使用與第一個(gè)設(shè)備相同的校準(zhǔn)。為了用探頭來測量傳輸線端點(diǎn),接地平面必須放在與測試探頭的節(jié)距間有正確間距的測試設(shè)備上。

              

            消除測試設(shè)備對射頻器件測量影響

              替代探測測試設(shè)備的方法就是使用一項(xiàng)技術(shù),其實(shí)現(xiàn)了兩個(gè)單端口校

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