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            集成電路可靠性試驗(yàn)―鹽霧技術(shù)研究

            作者: 時(shí)間:2013-11-30 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
            大,這時(shí)反應(yīng)速度(腐蝕速度)分兩種情況:①當(dāng)溶解氧不能滿足電化學(xué)反應(yīng)的要求時(shí),氧的溶解度對腐蝕速度起主要作用,即腐蝕速度隨溶液中氧的濃度的增大而變大。②當(dāng)溶解氧能滿足電化學(xué)反應(yīng)的要求時(shí),腐蝕速度受氧濃度C的影響變小,而主要受溫度或濃度的影響,即由于溶解度的增加,溫度降低或濃度降低, 使腐蝕速度降低。

              3.4 流速

              在氧濃度、溫度、鹽濃度一定時(shí),流速的增加,使擴(kuò)散層厚度δ減小,由公式(5)可知,極限電流密度id變大,所以腐蝕速度增加。再看試驗(yàn)結(jié)果表1中的③,流速變大后,電路表面的腐蝕現(xiàn)象增加了,也就是說腐蝕速度是與流速成正比關(guān)系的。

              3.5 樣品擺放的影響

              從表1④看,腐蝕現(xiàn)象隨角度變大而變得嚴(yán)重,我們研究該現(xiàn)象嚴(yán)重的原因。

              圖3中左圖為樣品擺放的位置,右圖為鹽霧顆粒在蓋板上的受力情況。

              下面來看一下鹽霧顆粒在樣品表面停留的時(shí)間。假定顆粒從樣品表面蓋板的上端向下端流動,設(shè)蓋板的長度為L,根據(jù)圖3中右圖的顆粒受力情況及動力學(xué)原理,得出:

              

            集成電路可靠性試驗(yàn)―鹽霧技術(shù)研究

              從公式(8)中可知,樣品偏離垂直方向的角度α與時(shí)間t成正比,即當(dāng)α=0°時(shí),t最小;當(dāng)α=90°時(shí),t最大,鹽霧顆粒在樣品表面時(shí)間越長,鹽沉積在表面蓋板上的就越多,對樣品的破壞性就越大。當(dāng)角度為0°時(shí),樣品放置會不穩(wěn)定;角度為90°時(shí),因鹽沉積量太大而影響試驗(yàn)的作用。因此,角度在10°-80°比較合適,一般取45°,即可使流速快又可使鹽沉積在蓋板上不多。該角度便于調(diào)制而且樣品放置方便。

              

            集成電路可靠性試驗(yàn)―鹽霧技術(shù)研究

              4 結(jié)論

              通過以上的試驗(yàn)與結(jié)果分析,我們可以認(rèn)為在溫度小于35℃前,腐蝕速度與溫度成正比關(guān)系;當(dāng)超過35℃后,腐蝕速度與溫度成反比關(guān)系;在35℃腐蝕速度達(dá)到最大。鹽濃度小于3%前,腐蝕速度與濃度成正比關(guān)系;當(dāng)鹽濃度超過3%后,腐蝕速度與鹽濃度成反比關(guān)系;在3%時(shí)腐蝕速度達(dá)到最大。氧溶解度對腐蝕速度的影響是與溫度與鹽濃度相關(guān)的。采用溫度35℃、鹽濃度3%進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)可以在最短時(shí)間并且最有效地反映封裝的抗腐蝕能力。樣品的擺放偏離垂直方向的角度越大,試驗(yàn)越嚴(yán)酷,越小越寬松,試驗(yàn)時(shí)的角度為45°,可以兩者兼顧。

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