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            新一代0.30毫米間距芯片級封裝(CSP)面臨的組裝和設(shè)計挑戰(zhàn)

            ——
            作者:JonasSjoberg 時間:2013-12-26 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏
            編者按:本文將探討間距為0.30-0.40mm的芯片級封裝的各種設(shè)計與布局選擇和組裝與材料選擇,以及各自面臨的挑戰(zhàn)。本文也著重探討了不同的模具類型和浸漬材料以及空氣與氮氣回流焊。

              浸液/膏選擇

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/203217.htm

              0.30毫米間距的浸液選擇是基于0.40毫米間距穿透模塑通孔(TMV)堆疊組裝元件的開發(fā)活動。

              在這些開發(fā)活動時,測試了15種不同的浸液/膏材料,主要聚焦浸潤和消除氮回流焊的需求。如表1所示,不同材料之間存在重大差異,但它們在0.40毫米間距穿透模塑通孔(TMV)堆疊組裝中都需要氮氣回流焊。在評估時,頂端和低端零部件都進(jìn)行了浸潤,以評估流程的穩(wěn)健性,但在常規(guī)生產(chǎn)中,只有頂端元件會浸潤,而真正的良率會更高,但在空氣回流焊下還不夠高。

              表1表明0.4/0.4毫米間距PoP需要氮氣,材料A、G、H和N在氮氣回流焊下顯示出100%的良率。材料A、G、H和N被用于0.30毫米間距浸潤流程,但浸潤效果不可接受,即使電氣良率在空氣回流焊中達(dá)到100%。

              底部充膠選擇

              0.3毫米間距的底部充膠材料從流程和可靠性的角度來說很復(fù)雜。通常,采用所謂的無充填材料,這從機械角度來說很好,但不適合熱循環(huán)。另一方面,倒裝芯片通常使用所謂的底部充膠,從散熱角度來說更好一些,但更加昂貴且不可返工。

              流程細(xì)節(jié)

              在組裝痕跡期間,我們使用了兩種不同的0.30毫米間距CSP組裝方法:絲網(wǎng)印刷和浸潤?;亓骱冈诳諝夂偷獨庵型瓿?。

              印刷與檢查

              0.40毫米間距CSP的標(biāo)準(zhǔn)印刷流程最初使用了標(biāo)準(zhǔn)的電解拋光0.080毫米厚激光切割模板。在所有地方進(jìn)行了自動焊膏檢查(表2和圖4、5),而自動模板清潔在每次印刷后進(jìn)行。

              可以看到,阻焊層限定()和非阻焊層限定(N)焊盤之間存在微小的差異。盡管我們希望獲得更高的Cp和Cpk,結(jié)果仍令人樂觀,為我們進(jìn)一步的開發(fā)給出了很好的基線。阻焊層限定()的Cp和Cpk較低表明,包含所謂的窗口開口的NSMD焊盤的絲網(wǎng)印刷效果更高。對于未來的0.30毫米間距CSP印刷,我們決定使用所謂窗口設(shè)計的NSMD焊盤。在僅使用絲網(wǎng)印刷流程的0.30毫米間距CSP的大約400個完整組件的最初測試中,發(fā)現(xiàn)了一個問題,在SMD設(shè)計焊盤的焊橋上。

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