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      ADALM2000實驗:共發(fā)射極放大器

      —— 學(xué)子專區(qū)—
      作者:ADI 公司,Doug Mercer,Antoniu Miclaus 時間:2020-08-14 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏


      本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/202008/417057.htm

      目標(biāo)

      本活動的目的是研究BJT的共發(fā)射極配置。

      305615-fig-01.jpg

      圖1.共發(fā)射極放大器測試配置。

      背景知識:

      共發(fā)射極放大器是三種基本單級放大器拓?fù)渲弧JT共發(fā)射極放大器一般用作反相電壓放大器。晶體管的基極端為輸入,集電極端為輸出,而發(fā)射極為輸入和輸出共用(可連接至參考地端或電源軌),所謂“共射”即由此而來。

      305615-fig-02.jpg

      圖2.共發(fā)射極放大器測試配置面包板連接。

      材料:

      ■   ADALM2000主動學(xué)習(xí)模塊

      ■   無焊面包板

      ■   五個電阻

      ■   一個50 kΩ可變電阻、電位計

      ■   一個小信號晶體管(2N3904)

      305615-fig-03.jpg

      圖3.共發(fā)射極放大器測試配置,VIN和VCE

      指導(dǎo)

      圖1所示配置展現(xiàn)了用作共發(fā)射極放大器的晶體管。選擇適當(dāng)?shù)妮敵鲐?fù)載電阻RL,用于產(chǎn)生合適的標(biāo)稱集電極電流,VCE電壓約為VP(5 V)的一半。通過可調(diào)電阻RPOT與RB來設(shè)置晶體管(IB)的標(biāo)稱偏置工作點,進而設(shè)置所需的。選擇適當(dāng)?shù)姆謮浩鱎1/R2,以便通過波形發(fā)生器W1提供足夠大的輸入激勵衰減??紤]到在晶體管的基極上會出現(xiàn)非常小的信號,這樣做更容易查看發(fā)生器W1信號。衰減波形發(fā)生器W1信號通過4.7 uF電容交流耦合到晶體管基極,以免干擾直流偏置條件。

      305615-fig-04.jpg

      圖4.共發(fā)射極放大器測試配置,VIN和VBE。

      硬件設(shè)置

      波形發(fā)生器輸出W1配置為1 kHz正弦波,峰峰值幅度為3 V,偏移為0 V。并將其連接在示波器通道1+上,以顯示發(fā)生器輸出的信號W1。示波器通道2 (2+)用于交替測量Q1基極和集電極的波形。

      305615-fig-05.jpg

      圖5.替代方案的共發(fā)射極放大器測試配置。

      程序步驟

      打開連接到BJT晶體管集電極(VP = 5 V)的電源。

      配置示波器以捕獲多個周期的輸入信號和輸出信號。

      圖3和圖4是使用LTspice? 得到的仿真電路波形圖示例。

      共發(fā)射極放大器的電壓增益A可以表示為負(fù)載電阻RL與小信號發(fā)射極電阻re的比值。晶體管的跨導(dǎo)gm是集電極電流和所謂的熱電壓kT/q的函數(shù),在室溫下其近似值約為25 mV或26 mV。

      305615-Eq-01.jpg

      小信號發(fā)射極電阻為1/gm且可視為與發(fā)射極串聯(lián)?,F(xiàn)在,在基極上施加電壓信號,相同的電流(忽略基極電流)會流入re和集電極負(fù)載RL。因此,由RL與re的比值可得到增益A。

      305615-Eq-02.jpg

      圖5所示為另一種共發(fā)射極放大器測試電路方案。除了兩個小優(yōu)勢之外,所有屬性基本相同。其中一個優(yōu)勢是基極電流偏置不再取決于指數(shù)基極電壓()。第二個優(yōu)勢是AWG1衰減后輸出的交流小信號與基極偏置電路無關(guān),并且無需交流耦合。當(dāng)把交流小信號接在運算放大器的同相端子時,由于負(fù)反饋的作用,它也會出現(xiàn)在晶體管的基極端(反相運算放大器輸入)。

      305615-fig-06.jpg

      圖6.替代方案的共發(fā)射極放大器測試配置面包板連接。

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      圖7.替代方案的共發(fā)射極放大器測試配置,VIN和

      提供負(fù)反饋的自偏置配置

      目標(biāo)

      本節(jié)旨在研究添加負(fù)反饋對穩(wěn)定直流工作點的效果。晶體管電路最常用的一種偏置電路是發(fā)射極自偏置電路,它使用一個或多個偏置電阻來設(shè)置晶體管IB、IC和IE三個初始直流電流。

      305615-fig-08.jpg

      圖8.替代方案的共發(fā)射極放大器測試配置VBE縮放。

      硬件設(shè)置

      波形發(fā)生器輸出W1配置為1 kHz正弦波,峰峰值幅度為3 V,偏移為0 V。并將其連接在示波器通道1+上,以顯示發(fā)生器輸出的信號W1。示波器通道2 (2+)用于交替測量Q1基極和集電極的波形。

      305615-fig-10.jpg

      圖9.自偏置配置。

      程序步驟

      打開連接到BJT晶體管集電極(VP = 5 V)的電源。

      配置示波器以捕獲多個周期的輸入信號和輸出信號。

      圖11和圖12是使用LTspice? 得到的仿真電路波形圖示例。

      305615-fig-10.jpg

      圖10.自偏置配置面包板連接。

      添加發(fā)射極負(fù)反饋

      目標(biāo)

      本活動的目的是研究添加發(fā)射極負(fù)反饋的影響。

      305615-fig-11.jpg

      圖11.自偏置配置,VIN和VCE。

      背景知識

      共發(fā)射極放大器為放大器提供反相輸出,具有極高增益,而且各晶體管之間的差異很大。此外,由于與溫度和偏置電流密切相關(guān),增益有時無法預(yù)測。可以通過在放大器級配置一個小值反饋電阻來改善電路的性能。

      305615-fig-11.jpg

      圖12.自偏置配置,VIN和VBE。

      附加材料

      一個5 kΩ可變電阻、電位計

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      圖13.添加了發(fā)射極負(fù)反饋。

      指導(dǎo)

      如圖13所示,斷開Q1發(fā)射極的接地連接,插入RE(一個5 kΩ電位計)。調(diào)整RE,同時注意觀察晶體管集電極上的輸出信號。

      305615-fig-14.jpg

      圖14.添加了發(fā)射極負(fù)反饋的面包板連接。

      硬件設(shè)置

      波形發(fā)生器輸出W1配置為1 kHz正弦波,峰峰值幅度為3 V,偏移為0 V。并將其連在接示波器通道1+上,以顯示發(fā)生器輸出的信號W1。示波器通道2 (2+)用于交替測量Q1基極和集電極的波形。

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      圖15.添加了發(fā)射極負(fù)反饋,VIN和VCE。

      程序步驟

      打開連接到BJT晶體管集電極(VP = 5 V)的電源。

      配置示波器以捕獲多個周期的輸入信號和輸出信號。

      圖15和圖16是使用LTspice? 得到的仿真電路波形圖示例。

      305615-fig-16.jpg

      圖16.添加了發(fā)射極負(fù)反饋,VIN和VBE。

      提高發(fā)射極負(fù)反饋放大器的交流增益

      添加發(fā)射極負(fù)反饋電阻提高了靜態(tài)工作點的穩(wěn)定性,但降低了放大器增益??赏ㄟ^在負(fù)反饋電阻RE上添加電容C2,在一定程度上恢復(fù)了交流信號的較高增益,如圖17所示。

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      圖17.添加C2可提高交流增益。

      硬件設(shè)置

      波形發(fā)生器輸出W1配置為1 kHz正弦波,峰峰值幅度為3 V,偏移為0 V。并將其設(shè)連接在示波器通道1+上,以顯示發(fā)生器輸出的信號W1。示波器通道2 (2+)用于交替測量Q1基極和集電極的波形。

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      圖18.添加C2之后的面包板連接,用于提高交流增益。

      程序步驟

      打開連接到BJT晶體管集電極(VP = 5 V)的電源。

      配置示波器以捕獲多個周期的輸入信號和輸出信號。

      圖19和圖20是使用LTspice? 得到的仿真電路波形圖示例。

      305615-fig-19.jpg

      圖19.添加C2可提高交流增益VIN和VCE

      問題

      ■   對于共發(fā)射極放大器電路設(shè)置,增加RL會對電壓增益A產(chǎn)生什么影響?

      您可以在學(xué)子專區(qū)博客上找到問題答案。

      305615-fig-20.jpg

      圖20.添加C2可提高交流增益VIN和VBE。

      作者簡介:

      Doug Mercer于1977年畢業(yè)于倫斯勒理工學(xué)院(RPI),獲電子工程學(xué)士學(xué)位。自1977年加入ADI公司以來,他直接或間接貢獻了30多款數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器產(chǎn)品,并擁有13項專利。他于1995年被任命為ADI研究員。2009年,他從全職工作轉(zhuǎn)型,并繼續(xù)以名譽研究員身份擔(dān)任ADI顧問,為“主動學(xué)習(xí)計劃”撰稿。2016年,他被任命為RPI ECSE系的駐校工程師。

      Antoniu Miclaus現(xiàn)為ADI公司的系統(tǒng)應(yīng)用工程師,從事ADI教學(xué)項目工作,同時為Circuits from the Lab?、QA自動化和流程管理開發(fā)嵌入式軟件。他于2017年2月在羅馬尼亞克盧日-納波卡加盟ADI公司。他目前是貝碧思鮑耶大學(xué)軟件工程碩士項目的理學(xué)碩士生,擁有克盧日-納波卡科技大學(xué)電子與電信工程學(xué)士學(xué)位。



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