摘要：本文的目的是分析碳化硅MOSFET的短路實驗(SCT)表現(xiàn)。具體而言，該實驗的重點是在不同條件下進行專門的實驗室測量，并借助一個穩(wěn)健的有限元法物理模型來證實和比較測量值，對短路行為的動態(tài)變化進行深度評估。

　　前言

　　就目前而言，碳化硅(SiC)材料具有極佳的的電學(xué)和熱學(xué)性質(zhì)，使得碳化硅功率器件在性能方面已經(jīng)超越硅產(chǎn)品。在需要高開關(guān)頻率和低電能損耗的應(yīng)用中，碳化硅MOSFET正在取代標(biāo)準(zhǔn)硅器件。半導(dǎo)體技術(shù)要想發(fā)展必須解決可靠性問題，因為有些應(yīng)用領(lǐng)域?qū)煽啃砸笫謬?yán)格，例如：汽車、飛機、制造業(yè)和再生能源。典型的功率轉(zhuǎn)換器及相關(guān)功率電子元件必須嚴(yán)格遵守電氣安全規(guī)則，要能在惡劣條件下保持正常工作，其魯棒性能夠耐受短路這種最危險的臨界事件的沖擊 ^[1]。

　　沒有設(shè)備能夠監(jiān)測微秒級功率脈沖引起的器件內(nèi)部溫度升高，當(dāng)脈沖非常短時，只能用模擬方法估算晶體管結(jié)構(gòu)內(nèi)部和相鄰層的溫度上升。此外，溫度估算及其與已知臨界值的相關(guān)性將能解釋實驗觀察到的失效模式。

　　在這種情況下，模擬工具和分析方法起著重要作用，因為了解在極端測試條件下結(jié)構(gòu)內(nèi)部發(fā)生的現(xiàn)象，有助于解決如何強化技術(shù)本身的魯棒性問題，從而節(jié)省開發(fā)時間^[2]，[3]。

　　本文簡要介紹了650V、45mΩ碳化硅功率MOSFET樣品的短路實驗，以及相關(guān)的失效分析和建模策略。

　　短路試驗分析與結(jié)構(gòu)模擬

　　在做短路實驗(SCT)前，先用電壓電流曲線測量儀對待測樣品的柵極氧化層進行完整性測試，如圖1(a)所示。然后，對待測器件進行動態(tài)表征測試，評估其開關(guān)特性。 圖1(b)所示是典型開關(guān)表征的等效電路圖。圖1(c)所示是相關(guān)實驗的波形：Vgs、Vds、Id，以及在VDD = 400V、20A負載電流、Vgs=-5/20V、Rg =4.7Ω關(guān)斷時的功率分布Poff。計算出關(guān)斷能量Eoff，取值約25?J。

圖1(a)柵極氧化層測量，(b)開關(guān)表征等效電路(c)典型的關(guān)斷波形

　　圖2(a)所示是短路實驗的試驗臺，圖2(b)所示是實驗等效電路圖。

圖2實驗裝置：(a)試驗臺，(b)等效電路

　　圖3(a)所示是樣品1在失效條件下的短路實驗波形。施加一串時間寬度增量為250ns的單脈沖達到失效點。觀察到脈沖間延遲為5秒。在VDD = 400V、Vgs = 0/20V和Rg =4.7Ω的條件下，樣品1順利完成tsc=5,75?s脈沖短路實驗。

圖3(a)短路試驗動態(tài)波形 (b)和(c)柵極氧化層電學(xué)表征(d)短路試驗導(dǎo)致柵極氧化層退化后的關(guān)斷波形

　　在這個時步里，脈沖無法顯示失效模式，需要在下一個時步(tsc=6?s)中去驗證，此時，柵極氧化層被不可逆地損壞。觀察到漏極電流Id和Vgs下降(圖3(a))。在圖3(b)中觀察到的損壞是短路能量(Esc)過高導(dǎo)致的柵極氧化層失效，并且用曲線測量儀證實失效存在，如圖3(c)所示。觀察到的柵極氧化層退化與Eoff性能的動態(tài)變化相關(guān)，如圖3(d)所示。

　　隨后，對失效器件進行失效分析，在后側(cè)和前側(cè)用光電子能譜確定缺陷位置，并用聚焦離子束方法進行“熱點”截面分析。 圖4所示的物理缺陷本質(zhì)上是多晶硅層熔化，與電廢料一致。

圖4：退化后物理分析