一種安全可控的SoC可測性設計 作者： 時間：2017-06-05 來源：網(wǎng)絡 加入技術交流群 掃碼加入和技術大咖面對面交流海量資料庫查詢 收藏 <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 摘要：提出了一種安全可控的可測性設計DFT（Design For Test）。DFT既能夠完成對SoC的測試，又能保障SoC自身敏感信息和關鍵技術的安全。本文引用地址：http://www.biyoush.com/article/201706/349244.htm關鍵詞：可測性設計 集成電路 微系統(tǒng)芯片一種安全可控的SoC可測性設計.pdf
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