使用磁場和電場探頭

在任何電路板上，很少存在純粹的電場或純粹的磁場輻射。分別使用兩種探頭來了解騷擾的本質并確定導致該問題的根本原因對于排查十分重要。一般情況下，磁場泄露是由于PCB走線、線纜等導致的，而電場泄露則是由相鄰走線和信號平面之間的電壓差造成的。不同的信號路徑設計將會導致不同區(qū)域內不同類型的場占主要優(yōu)勢。因此具備同時觀測兩個方面場的分析功能能夠在測量分析過程中帶來更多的靈活性。

圖4：磁場探頭（左）和電場探頭（右）在進行信號捕獲時的行為

近場掃描方式

小步進或著近場探頭的微小重定位可能會影響場強讀數，從而增加重復測量比對的困難度，特別是當輻射強度相對基底噪聲只有幾個dB的差異時。探頭支架或夾具能夠在測試過程中提供一個穩(wěn)定的位置。這對于保持探頭的距離和穩(wěn)定探頭方向，從而盡量減小測量中的變化，是非常有必要的。

觀察隨機和雜散信號

進行近場信號觀測時，EMI的輻射往往是隨機的。當探頭在被測件上面移動時，它能夠以一個非常短的間隔進行信號的拾取，而且可以一致地進行復現。最大保持功能被證明在這種復雜的觀測情況下是十分有用的。

峰值檢測和包絡模式下的最大保持功能能夠幫助工程師捕獲并且保持住所檢測到信號的最大峰值，從而在被測件不同模塊間進行信號測量排查時提供一個快速的視覺參考。如果創(chuàng)建一個模板來模擬標準的限制線，你還可以設置示波器在信號觸碰到模板時進行報警聲提示或者停止捕獲。這一功能對于當你盯著被測件，并在上面來回移動近場探頭進行探查時十分有用，因為此時你的注意力是保持在電路板上而非儀器屏幕。

圖5：一些示波器在包絡模式下帶有類似于頻譜儀最大保持的功能，此時測試中頻譜波形的最大最小值都會被描繪出來。你也可以創(chuàng)建一個模板(上圖中的灰色部分)來模擬標準的測試限制線。

在近場EMI調試測試中，總會有一些新的想法和權衡方法來減輕排查工作。設立任何近場測量時，可以使用上面的指南作為參考。在隨后的文章中，我們將通過幾個案例來詳細討論如何使用示波器的各種功能進行EMI的排查應用。