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            使用探頭定位近場EMI故障點

            作者: 時間:2017-03-23 來源:網(wǎng)絡 收藏
            在本系列的前兩篇文章中,我們討論了RTO示波器進行EMI排查所能夠提供的各項功能。在這篇文章中,讓我們看下使用近場探頭檢測EMI干擾的通用準則。在研發(fā)后期進行的一致性測試所采用的遠場測試并不能夠在問題根源定位中提供多少幫助,這使得工程師面對問題電路無從下手。因此,定位和確定EMI問題根源的能力始終是排查任何EMI問題的重中之重。

            近場探頭,又稱嗅探探頭,已經(jīng)被廣泛地用于輻射源的識別中。它們在探測中起到天線的作用,能夠檢測到從被測件中輻射出來的近場的電場或磁場騷擾信號。這有助于工程師縮小排查范圍,并盡可能地聚焦在騷擾泄露點處。在這種情況下,精度或與遠場測試結(jié)果的相關性就顯得不是那么重要。

            圖1:通過在問題電路附近探查掃描,你可以很容易地觀察到當探頭靠近輻射泄露點時在頻域上出現(xiàn)的頻譜尖峰
            圖1:通過在問題電路附近探查掃描,你可以很容易地觀察到當探頭靠近輻射泄露點時在頻域上出現(xiàn)的頻譜尖峰

            近場測試能夠展現(xiàn)出當前情況下是何種類型的電磁場占主導以及騷擾源輻射出來的場強,盡管這只是相對的結(jié)果。一般來說,越接近源頭,所探測到的場強會越大。這就給排查的著手點提供了一個很好的指引。現(xiàn)在我們來討論下使用近場探頭檢測EMI問題的一般方法。

            用好你的模擬前端

            通常通過探頭耦合進來的輻射騷擾都很微弱,需要使用小到mV級別的檔位進行測量。因此你的示波器擁有一個高靈敏度和高動態(tài)范圍的模擬前端就顯得尤為重要。記得隨時調(diào)整你示波器的垂直檔位,讓你的波形盡可能充滿屏幕。這樣才能夠保證在進行信號捕獲時,能用滿ADC的量程,避免出現(xiàn)削波的現(xiàn)象。

            一般情況下,垂直檔位的設置是先從能夠檢測到微弱信號的低檔位開始(如1mV/格~4mV/格),然后根據(jù)信號的特點調(diào)整到一個更高的檔位。這時同樣需要確保設備能夠在如此之高的靈敏度下,捕獲所需帶寬的信號。

            近場寬帶探查

            通過在所有的電路元件、走線和連接器上進行寬帶掃描探查,獲得在感興趣頻跨內(nèi)輻射騷擾的簡要分布概覽對于排查很有必要。在傳統(tǒng)的測試接收機中,騷擾功率只在一段有限的帶寬范圍內(nèi)進行量測。這使得觀察的范圍十分有限,因為該源可能產(chǎn)生并輻射出更高頻率成分的騷擾。例如,帶有RF模塊的嵌入式電路板,可以在GHz的頻段上對其他的部件產(chǎn)生干擾。

            圖2:在窄帶范圍內(nèi)做進一步分析定位前,了解整個感興趣的帶寬范圍內(nèi)輻射騷擾的分布很必要
            圖2:在窄帶范圍內(nèi)做進一步分析定位前,了解整個感興趣的帶寬范圍內(nèi)輻射騷擾的分布很必要

            因此,在一個寬帶的范圍內(nèi)用一個更高的頻跨來了解被測件的整體輻射情況是一個很好的做法。高性能的示波器,如R&S的RTO示波器,能夠在GHz級別的采集帶寬內(nèi)深入了解來自被測件各個模組在寬頻跨范圍內(nèi)的頻譜泄露。

            圖3:信號走線產(chǎn)生的磁場和電場分布
            圖3:信號走線產(chǎn)生的磁場和電場分布

            先從大的環(huán)狀探頭開始

            環(huán)狀探頭對磁場輻射提供不同的靈敏度。環(huán)狀探頭前端環(huán)的直徑越大,探頭的靈敏度就越高。從較大的環(huán)狀探頭開始來獲得對于輻射泄露位置分布的總體情況,接著可以切換成更小的環(huán)狀探頭來提供更精細的靈敏度。越小的環(huán)狀探頭能夠提供更佳的空間分辨率,在關注的頻段內(nèi)定位輻射源。


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            關鍵詞: 探頭EMI定位近

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