泰克TDS6154C高速實(shí)時示波器采用硅鍺（SiGe）半導(dǎo)體集成采集前端，并使用獨(dú)立的高速存儲器，這樣就不受內(nèi)存長度的限制，并且它同時支持最大采樣率和存儲長度。

4. 抖動、噪聲和BER測試和分析

針對FPGA中不斷增長的串行數(shù)據(jù)傳輸速率，設(shè)計(jì)人員不僅進(jìn)行眼圖測試，還需要一套先進(jìn)的測試和分析工具幫助他們更好地理解和改善他們設(shè)計(jì)方案的信號完整性。

針對FPGA提供的各種高速串行信號，傳統(tǒng)的采樣示波器配合抖動分析軟件針對FPGA中的高速串行信號能夠進(jìn)行抖動的測試，測試結(jié)果的分離，后期的抖動原因的定位和分析，以及水平時間分量上的BER分析。但是，對于導(dǎo)致BER的另一個主要原因，即串行信號中的噪聲分量，沒有一個徹底的測試和分析方法。圖4顯示了對于一個高速串行信號的抖動分量和噪聲分量影響B(tài)ER的過程。

圖4 抖動分量和噪聲分量的分解

從事FPGA器件的設(shè)計(jì)和應(yīng)用，以及背板的設(shè)計(jì)和制造的公司在開發(fā)基于超高速串行數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品時需要最高精度的抖動分析，噪聲分析以及完整的BER眼圖信息。泰克CSA/TDS8200系列采樣示波器 （Sampling Oscilloscope）測試眼圖時，除了傳統(tǒng)的眼圖和抖動測試外，泰克80SJNB抖動和噪聲分析軟件提供了對于設(shè)計(jì)人員和調(diào)試人員更有價值的抖動、噪聲、BER分析功能。

80SJNB不僅能夠得到高精度的眼圖測試結(jié)果，還能夠通過分隔抖動和噪聲，加快了識別水平和垂直眼圖閉合原因的速度。由于它能夠以獨(dú)特的視角查看抖動和噪聲的構(gòu)成成分，80SJNB可以高度精確全面地推斷BER及分析眼圖輪廓。在把抖動、噪聲和BER分析與8000系列的模塊化靈活性、完善的性能和信號保真度結(jié)合在一起時，您可以獲得理想的下一代高速串行數(shù)據(jù)設(shè)計(jì)檢驗(yàn)和一致性測試解決方案。下表列出了80SJNB軟件配合泰克CSA/TDS8200系列示波器得到的抖動和噪聲分析結(jié)果。