此時，各個單獨模塊的信號S4通過一個N輸入或門，得出的邏輯值傳輸給公共模塊，以改變鎖存器的輸出，進而各個模塊的信號SEU_O也只與各個模塊的數(shù)據(jù)沿和時鐘沿有關(guān)，回到了錯誤檢測和糾正的準備狀態(tài)。從而達到多次檢驗和糾正SEU引起的錯誤數(shù)據(jù)翻轉(zhuǎn)。

3 仿真結(jié)果
為驗證多次檢測和糾正電路的可靠性，使用仿真器的內(nèi)建命令進行了錯誤注入，運用TB文件對輸入數(shù)據(jù)進行控制，以模擬真實情況下的SEU。在不是信號上升沿的時候，使觸發(fā)器中輸出信號Q發(fā)生翻轉(zhuǎn)，模擬SEU引起的錯誤輸出，通過觀察信號Q的值，進行檢驗電路的檢測和修改功能。
圖5是基于上述電路結(jié)構(gòu)和錯誤注入的仿真結(jié)果。從圖中可以看出，隨著觸發(fā)器的輸出信號Q的變化，檢測和糾正電路的工作狀態(tài)。在左側(cè)橢圓標示的位置，是正確的數(shù)據(jù)翻轉(zhuǎn)。此時產(chǎn)生了數(shù)據(jù)脈沖和時鐘脈沖，檢測信號SEU_O和鎖存器的輸出(LATCH)沒有發(fā)生變化，保持0的狀態(tài)；在右側(cè)橢圓標示的位置可以看出，是錯誤的數(shù)據(jù)翻轉(zhuǎn)引起Q變?yōu)?。

此時，檢測電路檢測出其為錯誤的數(shù)據(jù)翻轉(zhuǎn)，信號SEU_O由0變?yōu)?，鎖存器輸出信號變?yōu)?，CMOS傳輸門導通。當信號SEU_O為1時，糾正電路對Q值進行糾正，Q值恢復為正確值，與此同時，信號S4(即Q_pulse)產(chǎn)生一個正脈沖。由于CMOS傳輸門此時導通，所以信號S4經(jīng)過一個CMOS傳輸門和一個非門傳輸給鎖存器，鎖存器的輸出信號變?yōu)?，CMOS傳輸門關(guān)閉。由于在SEU_O信號由0變?yōu)?時，鎖存器被置為1。此時，信號SEU_O變?yōu)?，信號SEU_O和鎖存器的輸出(LATCH)恢復錯誤糾正前的狀態(tài)。由上述分析可知，信號SEU_O跳變?yōu)?的時間間隔很短，如圖5所示。

4 結(jié)語
本文提出的電路結(jié)構(gòu)可以實現(xiàn)對SEU引起的數(shù)據(jù)錯誤翻轉(zhuǎn)進行多次檢測和糾正，完善了參考文獻所述電路結(jié)構(gòu)，打破了該電路的1個時鐘只可以糾正1次SEU引起錯誤的局限性。在提高電路結(jié)構(gòu)的檢測和糾正能力的同時，本文提出的電路結(jié)構(gòu)只是增加了極少的資源消耗。為了更好地檢測SEU引起的錯誤翻轉(zhuǎn)，在每個單獨模塊中只由原來的與門替換為異或門；為了實現(xiàn)對電路錯誤翻轉(zhuǎn)的多次檢測，僅在電路的公共模塊上增加了一個N輸入或門，即整個電路只是增加了一個或門。因此，僅占用較少的面積和資源，就能對觸發(fā)器的錯誤翻轉(zhuǎn)進行實時監(jiān)控。