Sweep Test Setting(掃描測(cè)試)其配置頁(yè)面如圖7所示，以Rx Sampling Point來(lái)進(jìn)行誤碼率測(cè)試定性分析信道質(zhì)量為例，較為容易理解，當(dāng)同定在某個(gè)采樣點(diǎn)進(jìn)行誤碼測(cè)試時(shí)，誤碼率達(dá)到E-10時(shí)，可判定信道質(zhì)量良好。在整個(gè)UI范圍內(nèi)進(jìn)行采樣點(diǎn)的掃描測(cè)試時(shí)，誤碼率達(dá)到E-10的采樣點(diǎn)越多，信號(hào)眼圖的眼睛張得越大，距離模板的余量越大，信道質(zhì)量越好。

3 結(jié)束語(yǔ)
通過(guò)以上實(shí)例，可見(jiàn)IBERT具有可操作性較強(qiáng)的GUI圖形界面，可操作性強(qiáng)、準(zhǔn)確、易用，可方便地設(shè)置高速串行收發(fā)通道的各項(xiàng)參數(shù)，并提供了多種環(huán)回模式及多種測(cè)試激勵(lì)源，并可通過(guò)自動(dòng)掃描測(cè)試，確定收發(fā)的最佳參數(shù)?？梢詽M足硬件測(cè)試時(shí)對(duì)高速串行收發(fā)通道信號(hào)測(cè)試的大部分需求，在故障定位等場(chǎng)合均可使用。在單板的硬件測(cè)試初期，使用IBERT可以輔助硬件測(cè)試，例如設(shè)置發(fā)送通道的各項(xiàng)參數(shù)，協(xié)助示波器測(cè)量信號(hào)質(zhì)量，而完全不需額外的開(kāi)發(fā)FPGA邏輯。進(jìn)行誤碼率測(cè)試，作為定量測(cè)量眼圖質(zhì)量、jitter等指標(biāo)的補(bǔ)充。從示波器看圖確定出的參數(shù)并非就是最佳參數(shù)。如示波器對(duì)于均衡后的信號(hào)質(zhì)量無(wú)法測(cè)試，而通過(guò)IBERT測(cè)誤碼率能夠測(cè)試到均衡之后的節(jié)點(diǎn)，測(cè)試范圍更大?？梢灶A(yù)見(jiàn)，集成比特誤碼測(cè)試儀IBERT將在FPGA設(shè)計(jì)中獲得廣泛應(yīng)用。