其中掃描函數(shù)的4個(gè)參數(shù)的作用是使掃描得到的數(shù)據(jù)自動(dòng)入庫(kù)以便數(shù)據(jù)顯示模塊使用。

系統(tǒng)開(kāi)機(jī)自檢可以調(diào)用Connect8563．Queryinstrument函數(shù)完成，函數(shù)返回值反映了系統(tǒng)目前的全部狀態(tài)如圖4所示。

(3)數(shù)據(jù)處理模塊

這個(gè)模塊包括2個(gè)主要功能：首先極限值、LISN校準(zhǔn)因子、天線校準(zhǔn)因子的插值功能。以極限值為例：電磁兼容測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求的極限值并不連續(xù)，而測(cè)試結(jié)果是連續(xù)的，因而在程序設(shè)計(jì)時(shí)，要根據(jù)有限的幾個(gè)極限值進(jìn)行插值，以確定頻譜儀掃頻的起始、截止頻率對(duì)應(yīng)的極限值。根據(jù)這2個(gè)頻點(diǎn)的極限值再進(jìn)行第二次插值，確定頻譜儀上每個(gè)點(diǎn)對(duì)應(yīng)的極限值。兩次插值均是在對(duì)數(shù)坐標(biāo)系下進(jìn)行線性插值。其他因子的插值算法與極限值插值類(lèi)似。其次是數(shù)據(jù)及單位轉(zhuǎn)化如下：

式中：CL為電纜損耗；PAG為前置放大器增益；P為從頻譜儀得到的功率值；107為50 Ω系統(tǒng)*率與電壓的轉(zhuǎn)換參數(shù)。

(4)報(bào)告報(bào)表模塊

由于EMI標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試會(huì)產(chǎn)生大量的數(shù)據(jù)，而且如果需要的到我們關(guān)心的超標(biāo)頻點(diǎn)的情況需要花費(fèi)很大精力將標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的極限值與測(cè)試數(shù)據(jù)比較。自動(dòng)測(cè)試軟件的自動(dòng)報(bào)告報(bào)表功能能給測(cè)試節(jié)約大量的人力物力，它自動(dòng)進(jìn)行數(shù)據(jù)的比較計(jì)算后生成標(biāo)準(zhǔn)的報(bào)表，而且可以根據(jù)給定的格式生成測(cè)試報(bào)告，做到快照式的測(cè)試即測(cè)試任務(wù)完成就可以馬上拿到測(cè)試數(shù)據(jù)現(xiàn)場(chǎng)分析現(xiàn)場(chǎng)馬上解決問(wèn)題。

3測(cè)試結(jié)果分析

由于本系統(tǒng)定位為電磁兼容預(yù)兼容實(shí)驗(yàn)，所以系統(tǒng)的誤差分析主要是與標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)對(duì)比得出，一般來(lái)說(shuō)預(yù)兼容實(shí)驗(yàn)與標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室測(cè)試結(jié)果誤差不超過(guò)3～6 dB為合格，誤差主要來(lái)源為實(shí)驗(yàn)室不理想，必然帶來(lái)諸如環(huán)境電平過(guò)大，墻壁反射及墻壁對(duì)天線方向圖的影響等誤差。通過(guò)對(duì)某信息設(shè)備輻射發(fā)射測(cè)試結(jié)果分析可得，超標(biāo)頻點(diǎn)誤差為3 dB左右，本底噪聲誤差為5 dB左右，符合要求。

4結(jié) 論

EMI標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)測(cè)試軟件具有執(zhí)行效率高、儀器同步性好、模塊化設(shè)計(jì)、易于維護(hù)的諸多優(yōu)點(diǎn)。VC++編制的程控指令具有很高的可移植性，可以移植到Agilent多數(shù)儀器和41所部分頻譜儀，對(duì)日后的程控系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)具有很好的借鑒意義。本系統(tǒng)解決了傳統(tǒng)測(cè)試的很多缺點(diǎn)和弊端，簡(jiǎn)化了測(cè)試過(guò)程大大提高了EMI標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試的工作效率，在電磁兼容領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用前景。