1) 配置TC-08和Ti32。通過免費(fèi)的配置軟件Picolog recorder配置TC-08溫度記錄儀，按照測(cè)試的需求設(shè)置數(shù)據(jù)記錄的模式，間隔，時(shí)長(zhǎng)，通道和報(bào)警等，直接通過紅外熱像儀的操作面板按鍵對(duì)測(cè)試的事項(xiàng)配置Ti32;

　　2) 粘貼3條貼片式熱電偶線到鏡片背面;

　　3) 安裝各個(gè)儀器，打開大功率激光器，對(duì)準(zhǔn)光學(xué)薄膜;

　　4) 開始記錄溫度數(shù)據(jù)。開啟TC-08和Ti32的記錄功能，開始進(jìn)行溫度采集，顯示和存儲(chǔ)，過了一段時(shí)間后，關(guān)閉大功率激光器，繼續(xù)記錄光學(xué)薄膜自然冷卻至室溫的溫度變化;

　　5) 導(dǎo)出數(shù)據(jù)，得到熱吸收情況。將兩款溫度記錄儀的數(shù)據(jù)導(dǎo)出到電腦上對(duì)比驗(yàn)證，并進(jìn)行數(shù)據(jù)分析，通過熱力學(xué)理論求得光學(xué)薄膜對(duì)激光量的熱吸收情況。

　　4 結(jié)果分析

　　TC-08完成了溫度數(shù)據(jù)采集之后，可以直接在Picolog Recorder軟件上將記錄的數(shù)據(jù)導(dǎo)出格式為圖片、excel或者txt格式的數(shù)據(jù)。如下圖所示，圖4為TC-08測(cè)試的溫度曲線，圖5為TC-08測(cè)試的溫度數(shù)據(jù)。

　　對(duì)比TC-08和Ti32測(cè)試的數(shù)據(jù)，兩者數(shù)據(jù)總體趨勢(shì)一致，因?yàn)門C-08的測(cè)試精度(±0.5℃)相比Ti32的測(cè)試精度(±2℃)要高，且鏡片的面積較大，TC-08不僅僅測(cè)試了一個(gè)溫度點(diǎn)，而是同時(shí)測(cè)量3至5個(gè)點(diǎn)，求各個(gè)點(diǎn)的平均值，這樣得到的溫度數(shù)據(jù)更接近真實(shí)值，所以采取TC-08測(cè)試的數(shù)據(jù)作為后期的分析數(shù)據(jù)。通過熱力學(xué)原理得到光學(xué)薄膜對(duì)激光量的熱吸收情況，從而能夠判斷光學(xué)薄膜的性能。

　　5 結(jié)論

　　試驗(yàn)表明，利用TC-08測(cè)試記錄的溫度曲線跟預(yù)期的理想溫度測(cè)試曲線十分相近，測(cè)量精度高，試驗(yàn)成功。光學(xué)薄膜是所有光學(xué)系統(tǒng)中不可缺少的基本元件，往往也是最薄弱的環(huán)節(jié)之一，尤其在強(qiáng)激光系統(tǒng)中，光學(xué)薄膜即使出現(xiàn)十分微小的瑕疵，也會(huì)導(dǎo)致輸出光束質(zhì)量下降。應(yīng)用于強(qiáng)激光系統(tǒng)的光學(xué)薄膜，則更強(qiáng)調(diào)它的抗激光強(qiáng)度，圍繞提高這類薄膜的抗激光強(qiáng)度所開展的工作，使這類薄膜的研究更加深入。熱吸收是光學(xué)薄膜的一項(xiàng)重要性能指標(biāo)，精度測(cè)量光學(xué)薄膜對(duì)激光量熱吸收可以大大優(yōu)化激光光學(xué)器件。