概倫電子推出其高效良率導向設計工具
概倫電子科技有限公司今日宣布推出其良率導向設計(DFY)平臺的新產(chǎn)品NanoYield,該產(chǎn)品以IBM授權(quán)的專利技術(shù)為基礎,旨在通過高效的良率分析和設計優(yōu)化,提升高端芯片設計的競爭力。
本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/125182.htm作為概倫電子NanoDesigner電路設計平臺的一部分,NanoYield致力于解決高階半導體工藝節(jié)點下由于工藝不穩(wěn)定性的增加對電路設計帶來的影響,快速有效地在芯片設計的早期預測產(chǎn)品良率,以幫助設計人員實現(xiàn)良率和性能的均衡設計。該產(chǎn)品通過概倫電子的BSIMProPlus建模平臺中的先進統(tǒng)計建模技術(shù)對工藝不穩(wěn)定性進行處理,BSIMProPlus是業(yè)界領先的SPICE建模工具,可提取精確的統(tǒng)計和邊角模型,以進行快速可靠的Monte Carlo分析和PVT分析。
概倫電子的NanoYield采用其業(yè)界創(chuàng)新的并行統(tǒng)計仿真SPICE引擎,該引擎可以適用于任意類型的電路仿真,并可把傳統(tǒng)的Monte Carlo分析速度在全SPICE精度水平下提升10至100倍。同時,NanoYield通過整合先進的統(tǒng)計采樣技術(shù)進一步大幅提升統(tǒng)計仿真性能,采用了IBM授權(quán)的專利算法和方法學進行統(tǒng)計采樣和良率計算,用于靜態(tài)隨機存儲器(SRAM)和許多其他類型的電路設計。采用此技術(shù),對于high-sigma的分析,其仿真速度比傳統(tǒng)的Monte Carlo方法提高幾個數(shù)量級,仿真時間可以從幾個月縮短到幾分鐘。技術(shù)開發(fā)工程師也可以采用此解決方案來驗證工藝并且提高SRAM和標準單元庫的良率。
概倫電子有限公司的董事長兼總裁劉志宏博士說“與IBM的合作將促使概倫電子全球的客戶在DFY領域里從IBM先進、成熟并且經(jīng)過驗證的創(chuàng)新技術(shù)中獲益,我們期待與IBM在該領域內(nèi)的進一步合作。”
IBM負責業(yè)務發(fā)展和技術(shù)授權(quán)事務的全球副總裁Tom Reeves先生說“IBM致力于通過授權(quán)其知識產(chǎn)權(quán)鼓勵世界范圍內(nèi)的技術(shù)創(chuàng)新與合作。我們與概倫電子達成的技術(shù)授權(quán)協(xié)議,為雙方進一步合作并提供更先進的集成電路設計解決方案打下了基礎”。
雙方將不對外界透露本次合作的具體協(xié)議條款。
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