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ProPlus首創(chuàng)整合式DFY方案

　　半導體制程技術持續(xù)精進，隨之而來的制程偏移(ProcessVariation)及小尺寸效應，恐導致設計結果的不確定性，因此如何建立完善的統(tǒng)計模型(StatisticalModel)，同時在ICDesign的階段能夠正確地應用統(tǒng)計模型，并且可以進行快速準確的良率分析，有效避免電路性能與良率(Yield)遭受影響，可謂當前重大課題。　　回顧2012年6月落幕的DesignAutomationConference(DAC)2012大會，個中最大亮點，無疑正是ProPlus領先EDA業(yè)界推出的「整合良率導
關鍵字： ProPlus EDA NanoYield

概倫電子推出其高效良率導向設計工具

概倫電子科技有限公司今日宣布推出其良率導向設計(DFY)平臺的新產品NanoYield，該產品以IBM授權的專利技術為基礎，旨在通過高效的良率分析和設計優(yōu)化，提升高端芯片設計的競爭力。
關鍵字：概倫 DFY NanoYield

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