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            小尺寸集成電路CDM測試

            —— 使用場致CDM測試改善小器件可測試性的構想
            作者: 時間:2010-12-26 來源:電子產品世界 收藏

            本文引用地址:http://www.biyoush.com/article/115740.htm


              支持模板

              第二種處理小型集成電路的方法是使用支持模板。業(yè)界存在關于支持模塊這種方法的顧慮:由于小器件周圍有介電常數(shù)較高的材料,介電的存會在多大程度上改變集成電路與場板(field plate)之間的電容?被測器件與場板之間的電容是被測器件上應力大小的決定因素。圖5顯示了固定在裝置中一個模板內的6 μSMD封裝。此時被測器件位于絕緣體中精心加工的孔,而絕緣體位于裝置使用真空的場板中。圖6顯示了6LLP封裝使用與不使用FR4支持模板時以8 GHz示波器捕獲的波形。此圖顯示這模板在測試條件下僅為集成電路增加極小的應力。

              結論

              使用場致方法來測試極小集成電路存在不少挑戰(zhàn)。將極小器件貼裝在電路板上能夠大幅改善測試的操作,但必須密切注意,使電路板不要太大,否則器件會遭受比沒有使用電路板來測試時嚴重得多的應力。使用模板來在測試期間固持器件的位置所帶來的應力增加極小。制造在測試期間能穩(wěn)固維持器件的模板將是一項挑戰(zhàn)。


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            關鍵詞: CDM IC 201012

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