一、受試樣品不同

溫度循環(huán)試驗一般對電路板、部件、整機、設備或系統(tǒng)進行應力篩選試驗。

溫度沖擊試驗一般針對電子元器件、電路板、零部件等進行測試，特別適合用于篩選元器件，尤其是集成電路器件。

二、測試目的不同

溫度循環(huán)試驗主要考核電子設備在溫度循環(huán)變化的環(huán)境適應性能力，是否可以正常工作；

溫度沖擊試驗主要考核受試電子器件在高范圍的環(huán)境應力例如溫度范圍在-70℃~180℃條件下的器件篩選試驗。

三、測試要求不同

溫度循環(huán)試驗：高溫溫度值、低溫溫度值、溫度變化速率（如5℃/min）、高低溫溫度點保持時間、循環(huán)次數組成。高低溫溫度極限值較為寬松，循環(huán)次數多為10次循環(huán)。

度沖擊試驗：高溫溫度值、低溫溫度值、溫度轉換時間（如溫度轉換時間≤3min）、循環(huán)次數組成。高低溫溫度極限值較為嚴苛，循環(huán)次數多為幾次至幾十次循環(huán)不等。

四、受試樣機的工作狀態(tài)不同

溫度循環(huán)試驗：溫度循環(huán)試驗期間要求在不同的循環(huán)時間點需要對受試樣機進行上電檢測功能和性能的完好性。

溫度沖擊試驗：溫度沖擊試驗期間一般不要求對受試樣機進行上電檢測，試驗后通電檢測或通過專業(yè)輔助儀器測試樣機的其他性能指標。

五、受試樣品的數量不同

溫度沖擊試驗：一般針對集成電路器件、電路板等進行，測試的數量一般較多。

溫度循環(huán)試驗：一般的環(huán)境應力篩選只在要求篩選的幾臺或1臺受試整機或系統(tǒng)上進行測試。

六、測試設備不同

溫度循環(huán)試驗：

對于不要求溫度變化速率或溫度變化速率要求比較低（如1℃/min）的溫度循環(huán)試驗，其實就是常規(guī)的高低溫循環(huán)試驗,使用普通的高低溫試驗箱即可進行測試。

對于要求高溫度變化速率（如5℃/min,10℃/min,15℃/min）的溫度循環(huán)試驗，需要使用專用的快速溫變箱進行測試，普通溫度箱是不能滿足要求的，對于要求更高溫度變化速率的，就需要使用高加速壽命HALT試驗箱。

溫度沖擊試驗：

一箱法的溫度沖擊試驗箱，試驗箱只有一個區(qū)域，低溫溫度點時，高溫風門關閉，只送冷風，高溫溫度點時，低溫風門關閉，高溫風門打開送熱風。

兩箱法溫度沖擊箱，一個低溫區(qū)，一個高溫區(qū)，通過提籃將受試樣品在低溫區(qū)和高溫區(qū)之間轉換。

七、檢測標準不同

溫度循環(huán)試驗：

GJB 1032-1990《電子產品環(huán)境應力篩選方法 》；

GB/T 2423.22-2012《電工電子產品 環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化》。

溫度沖擊試驗：

GJB 150.5A-2009《裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗》；

GB/T 2423.22-2012《電工電子產品 環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗N: 溫度變化》。

檢測試驗找彭工136-9109-3503。