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    博客專欄

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    PCBA板的測(cè)試方法有哪些?

    發(fā)布人:18570323830 時(shí)間:2024-10-07 來(lái)源:工程師 發(fā)布文章

    我們經(jīng)常提及到測(cè)試,是硬件產(chǎn)品的測(cè)試,它又分為板級(jí)測(cè)試(PCBA),部件測(cè)試,整機(jī)測(cè)試。



    PCBA電路板是核心組件,一般需要嚴(yán)格的測(cè)試,常見(jiàn)的測(cè)試類型有:ICT測(cè)試、FCT測(cè)試、老化測(cè)試、自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)AOI。

    一、在線測(cè)試(ICT)

    ICT—IN CIRCUIT TESTER即自動(dòng)在線測(cè)試,是現(xiàn)代PCB制造廠商必備測(cè)試設(shè)備,非常強(qiáng)大。它主要是通過(guò)測(cè)試探針接觸PCB layout出來(lái)的測(cè)試點(diǎn)來(lái)檢測(cè)PCBA的線路開(kāi)路、短路、所有零件的故障情況.這里需要用到工裝治具。如下圖:



    由于pcb板類型多,產(chǎn)品數(shù)量多,治具的數(shù)量和種類也就較多,在測(cè)試設(shè)備和治具件,就需要用到快換的連接器,如下圖:



    二、功能測(cè)試FCT

    功能系統(tǒng)測(cè)試使用生產(chǎn)線中部和末端的專用測(cè)試設(shè)備對(duì)電路板的功能模塊進(jìn)行全面的測(cè)試,以確認(rèn)電路板的質(zhì)量。功能測(cè)試主要有最終產(chǎn)品測(cè)試(Final Product Test)和ICT類似,需要用到工裝治具,一般是直接從板子的IO口進(jìn)行測(cè)試,可搭載M系列連接器。


    三、老化測(cè)試burn-in test

    老化測(cè)試是,指模擬產(chǎn)品在現(xiàn)實(shí)使用條件中涉及到的各種因素對(duì)產(chǎn)品產(chǎn)生老化的情況進(jìn)行相應(yīng)條件加強(qiáng)實(shí)驗(yàn)的過(guò)程。目的是檢測(cè)產(chǎn)品在特定環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。



    根據(jù)設(shè)計(jì)要求,將產(chǎn)品放置特定溫度、濕度條件下,持續(xù)模擬工作72小時(shí)~7天,記錄表現(xiàn)數(shù)據(jù),反推生產(chǎn)過(guò)程進(jìn)行改善,以確保其性能滿足市場(chǎng)需求。老化測(cè)試通常指電氣性能測(cè)試,類似的測(cè)試還有跌落測(cè)試、振動(dòng)測(cè)試、鹽霧測(cè)試等。

    老化測(cè)試不是一項(xiàng)必須項(xiàng),成本高,當(dāng)前在新能源賽道,老化測(cè)試比較常見(jiàn),多采用自動(dòng)化測(cè)試方案,搭載CMW模塊連接器。

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    四、自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)AOI

    AOI使用單個(gè)2D相機(jī)或兩個(gè)3D相機(jī)拍攝PCB的照片,然后把電路板照片與詳細(xì)的原理圖進(jìn)行比較。如果電路板在一定程度上與原理圖不匹配,則會(huì)將該電路板不匹配的地方標(biāo)記為由技術(shù)人員檢查,AOI能及時(shí)檢測(cè)故障問(wèn)題。



    但是,AOI檢測(cè)不會(huì)為電路板供電,無(wú)法100%檢測(cè)所有元器件的問(wèn)題,因此AOI一般會(huì)與其他測(cè)試方法結(jié)合使用,常用的測(cè)試組合是:

    ● AOI和飛針

    ● AOI和在線測(cè)試(ICT)

    ● AOI和功能測(cè)試

    PCBA測(cè)試是確保電路板質(zhì)量和可靠性的重要環(huán)節(jié),想要了解更多可關(guān)注騰方中科,持續(xù)分享測(cè)試測(cè)控相關(guān)知識(shí)點(diǎn)。


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