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            博客專欄

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            有人@你!鄧二平教授邀請您參加功率半導(dǎo)體器件封裝、測試與可靠性專題培訓(xùn)!

            發(fā)布人:旺材芯片 時間:2024-09-30 來源:工程師 發(fā)布文章

            近日,合肥工業(yè)大學(xué)知名教授鄧二平博士受邀擔(dān)任功率半導(dǎo)體器件封裝與可靠性關(guān)鍵技術(shù)的專題培訓(xùn)主講老師。鄧二平教授自2013年起,便深耕于功率半導(dǎo)體器件領(lǐng)域,特別是在壓接型IGBT器件的封裝結(jié)構(gòu)設(shè)計、可靠性測試方法及技術(shù)、測試設(shè)備開發(fā)等方面取得了顯著成就,同時也在壽命模型構(gòu)建、失效機理探究在線檢測技術(shù)等方面有著深厚的研究積累。


                                                                                                                                  已關(guān)注                                                                            關(guān)注                                                               重播                                                                                                                                                            關(guān)閉觀看更多更多
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                      視頻詳情              

              作為該領(lǐng)域的杰出專家,鄧二平教授近年來以第一作者和通訊作者身份發(fā)表了超過110篇高水平學(xué)術(shù)論文,成功主持并完成了30余項來自中車、華為、蔚來、鐵科院行業(yè)領(lǐng)軍企業(yè)的合作項目,將科研成果有效轉(zhuǎn)化為實際應(yīng)用,推動了相關(guān)產(chǎn)業(yè)的發(fā)展與進步。

              圖片

              本次培訓(xùn)中,鄧二平教授希望通過一天半的培訓(xùn),以他的專業(yè)見解和實戰(zhàn)經(jīng)驗,圍繞功率半導(dǎo)體器件的封裝、測試及可靠性關(guān)鍵技術(shù)展開深入講解,并結(jié)合行業(yè)發(fā)展的最新動態(tài),通過豐富的實際案例,為參訓(xùn)者詳細剖析封裝關(guān)鍵技術(shù)、先進的測試方法、國際標(biāo)準(zhǔn)與規(guī)范、功率器件封裝結(jié)構(gòu)設(shè)計、仿真分析、布局優(yōu)化、可靠性評估及失效機理分析以及在實際測試過程中可能遇到的挑戰(zhàn)與解決方案等方面提供有力的指導(dǎo)和支持。


              隨著新能源汽車、智能電網(wǎng)、工業(yè)控制等領(lǐng)域的快速發(fā)展,面對這一行業(yè)趨勢,深入理解并掌握功率半導(dǎo)體器件的封裝技術(shù)、測試方法及可靠性評估,已成為推動技術(shù)創(chuàng)新與產(chǎn)業(yè)升級的關(guān)鍵所在。


              此次“功率半導(dǎo)體封裝、測試與可靠性培訓(xùn)”不僅是對當(dāng)前功率半導(dǎo)體器件技術(shù)的一次全面梳理與展示,更是為行業(yè)內(nèi)專家、學(xué)者及企業(yè)技術(shù)人員搭建了一個交流學(xué)習(xí)的寶貴平臺。通過實戰(zhàn)案例分析和導(dǎo)師的專業(yè)見解,幫助參訓(xùn)人員全面掌握功率半導(dǎo)體器件從設(shè)計到應(yīng)用的全流程知識,為從業(yè)者提供前瞻性的指導(dǎo);為工業(yè)界以及高校提供前沿數(shù)據(jù);為專業(yè)人才的培養(yǎng)奠定基礎(chǔ)。


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