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            博客專欄

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            匠心獨(dú)運(yùn):三海產(chǎn)品背后的故事與魅力

            發(fā)布人:旺材芯片 時間:2024-05-10 來源:工程師 發(fā)布文章

            ENTERPRISE

            STORY


            COMPANY INTRODUCTION

            始于卓越、立于行動、可靠服務(wù)、質(zhì)量報國












            圖片圖片

            杭州三海電子科技股份有限公司


            杭州三海電子科技股份有限公司(以下簡稱“三??萍肌保﹦?chuàng)始于2002年,是一家專業(yè)從事可靠性檢測設(shè)備研發(fā)生產(chǎn)的國家級高新技術(shù)企業(yè),并于2023年入選國家工信部第五批專精特新“小巨人”名單。


            三海科技一直專注于元器件老煉檢測系統(tǒng)的研發(fā),始終引領(lǐng)國內(nèi)元器件老煉檢測系統(tǒng)的發(fā)展潮流,二十年來已經(jīng)為全國300多家單位提供了數(shù)百個品種的相關(guān)設(shè)備,并以元器件可靠性檢測技術(shù)為基礎(chǔ),橫向衍生出諸如射頻器件三溫測試系統(tǒng)的元器件測試設(shè)備,縱向派生出電子部件可靠性檢測系統(tǒng)、機(jī)電產(chǎn)品可靠性檢測系統(tǒng),儲能單元可靠性檢測系統(tǒng)等諸多部件級系統(tǒng)級可靠性檢測設(shè)備,二者與元器件老煉檢測系統(tǒng)共同構(gòu)筑起可靠性之橋,保障工業(yè)發(fā)展的蓬勃騰飛。


            三海科技擁有一支百余人的產(chǎn)品研發(fā)團(tuán)隊,掌握產(chǎn)品的核心技術(shù),擁有完全的自主知識產(chǎn)權(quán),能夠根據(jù)用戶的需求快速準(zhǔn)確地提供完整的可靠性檢測設(shè)備解決方案以及生產(chǎn)配套的定制型產(chǎn)品。三??萍际冀K堅持“質(zhì)量第一、用戶至上”的經(jīng)營理念,在嚴(yán)酷的競爭環(huán)境下,仍然一如既往地堅持硬件物料優(yōu)選,按照質(zhì)量管理體系對每一道工序?qū)嵤﹪?yán)格的工藝管理,保證產(chǎn)品的可靠性、維修性、測試性、保障性和安全性,贏得了用戶的一致贊譽(yù)。


            三??萍际冀K秉承“始于卓越、立于行動、可靠服務(wù)、質(zhì)量報國”的發(fā)展愿景,不斷持續(xù)提升產(chǎn)品的技術(shù)性能和品質(zhì),助力我國軍民用裝備可靠性水平的提升,助力我國可靠性事業(yè)的全面騰飛。


            ,時長03:47

            產(chǎn)品介紹



            PART ONE

            Evo-P系列

            封裝級老化檢測系統(tǒng)


            圖片

            靈活的高產(chǎn)出可靠性驗證與測試總體解決方案。

            支持DIP、QFN、DFN、TO、TOLL等多種封裝類型的定制開發(fā)。

            支持高功率(>2000V)和高溫加熱(~200℃)能力。

            最大支持同時9.8Kpcs產(chǎn)品同時老化(數(shù)量依據(jù)封裝類型定義)。

            支持增強(qiáng)型(E-Mode)、耗盡型(D-Mode)和共源共柵(Cascode)型器件。

            支持MES,YMS及EAP軟件訪問系統(tǒng),并支援SECS/GEM半導(dǎo)體通信協(xié)議,支持產(chǎn)品漏電流監(jiān)控,并實時數(shù)據(jù)記錄。

            系統(tǒng)具有自檢測(診斷和校準(zhǔn))能力。

            支持圖形用戶界面和產(chǎn)品MAP圖輸出(支持CSV/TXT等相關(guān)格式)。



            PART TWO

            ES-ICDH01

            超大規(guī)模集成電路老化系統(tǒng)


            圖片

            適用于支持MCU、SOC、ARM、FPGA、存儲器、邏輯器件等集成電路器件的高溫工作壽命試驗(HTOL),使器件進(jìn)行真正意義上老化邊測試。

            試驗封裝:支持SOP、DIP、DFN、QFP、LCC、

            BGA等各種封裝規(guī)格...

            試驗?zāi)芰Γ喝p向 I/0 通道,128~192路/槽位(可選);100MHz(100MHz內(nèi)按39.0625pS分辨率任意可調(diào));Pattern深度16~32M行(可選);支持RL、RH、NR、SBL、SBH、SBC等信號格式輸出;支持none、repeat、loop、keepalive、halt向量指令,VIL、VIH、VOL、VOH:0~5V可程控


            ——

            PART THREE

            CS-IMSNPC

            功率循環(huán)測試系統(tǒng)

            圖片

            適用于各種封裝類型的功率模塊的功率循環(huán)試驗、可進(jìn)行秒級(s)/分鐘級(min)的功率循環(huán)試驗。

            符合標(biāo)準(zhǔn):IEC60749-34、AQG-324..

            試驗?zāi)J剑弘娦钥己?、例行品質(zhì)、器件鑒定...

            試驗對象:各種封裝類型Diode、Si-MOSFET、Si-IGBT、SiC-MOSFET等功率模塊...

            試驗場合:軍工電子、汽車電子、消費(fèi)電子,半導(dǎo)體器件設(shè)計和封測企業(yè)…



            PART FOUR

            ES-PDSHGB

            高溫柵偏老煉檢測系統(tǒng)(HTGB)


            圖片

            適用于各種封裝形式的半導(dǎo)體分立器件的高溫柵偏試驗和老煉篩選。

            符合標(biāo)準(zhǔn):GJB128、MIL-STD-750...

            試驗?zāi)J剑弘娦钥己?、例行品質(zhì)、器件鑒定…

            試驗對象:IGBT、場效應(yīng)管...

            試驗場合:軍工電子、汽車電子、消費(fèi)電子半導(dǎo)體器件設(shè)計和封測企業(yè)…


            ——

            PART FIVE

            ES-PDSMRB

            高溫高濕反偏老煉檢測系統(tǒng)(H3TRB)


            圖片

            適用于TO220、TO247、TO3P、TO252、T0263等封裝型的各種功率半導(dǎo)體器件進(jìn)行高溫高濕反偏試驗。

            符合標(biāo)準(zhǔn):JEDEC、MIL-STD-750、GJB128...

            試驗?zāi)J剑弘娦钥己?、例行品質(zhì)、器件鑒定..

            試驗對象:二極管、三極管、MOSFET、IGBT、SiC...

            試驗場合:軍工電子、汽車電子、消費(fèi)電子、半導(dǎo)體器件設(shè)計和封測企業(yè)。



            PART SIX

            ES-PDSHRB

            高溫反偏老煉檢測系統(tǒng)(HTRB)


            圖片

            適用于各種封裝形式的半導(dǎo)體分立器件的高溫柵偏試驗和老煉篩選。

            符合標(biāo)準(zhǔn):GJB128、MIL-STD-750、JESD22-A108...

            試驗?zāi)J剑弘娦钥己?、例行品質(zhì)、器件鑒定…

            試驗對象:IGBT、場效應(yīng)管..

            試驗場合:軍工電子、汽車電子、消費(fèi)電子半導(dǎo)體器件設(shè)計和封測企業(yè)。


            ——

            PART SEVEN

            CS-PDSNPC

            間歇工作壽命老煉檢測系統(tǒng)(IOL)

            圖片

            適用于各種封裝(TO-254、TO-257、SMD-0.5、SMD-1、SMD-2等)及類型單管(MOSFET、IGBT、Si基/Sic Diode等)的功率半導(dǎo)體電子元器件功率循環(huán)/間歇工作壽命試驗和穩(wěn)態(tài)功率老煉試驗。

            符合標(biāo)準(zhǔn):MIL-STD-750、GJB128、JESD22-A122、AEC-O101...

            試驗?zāi)J剑弘娦钥己恕⒗衅焚|(zhì)、器件鑒定

            試驗對象:二極管、三極管、MOS管、IGBT管

            試驗場合:軍工電子、汽車電子、消費(fèi)電子、半導(dǎo)體器件設(shè)計和封測企業(yè)...



            PART EIGHT

            ES-PDSMHA

            高加速應(yīng)力試驗系統(tǒng)(BHAST)

            圖片

            適用于三極管、MOS、IGBT和可控硅等非氣密性半導(dǎo)體器件的高加速應(yīng)力試驗(HAST/BHAST)、不加電的加速應(yīng)力試驗(UHAST)和高壓蒸煮試驗(PCT/AC)。

            符合標(biāo)準(zhǔn):JESD22-A110,JESD22-A118,JESD22-A101...

            試驗?zāi)J剑弘娦钥己恕⒗衅焚|(zhì)、器件鑒定...

            試驗對象:二極管、三極管、效應(yīng)管、可控硅、三端穩(wěn)壓集成器、光電耦合器、電阻器...

            試驗場合:軍工電子、汽車電子、消費(fèi)電子、半導(dǎo)體器件設(shè)計和封測企業(yè)...



            聯(lián)系方式

            ——

            圖片


            總公司 | 杭州三海電子科技股份有限公司

            電話 | 0571-89081127

            地址 | 杭州市余杭區(qū)閑興路25號13幢

            -

            陜西公司 | 陜西三海電子科技有限公司

            電話 | 029-89250869

            地址 | 西安市高新區(qū)西太路526號信息產(chǎn)業(yè)園二期4號樓B2-01

            -

            金華淖悅 金華市淖悅精密科技有限公司

            電話 | 0579-82690081

            地址 | 金華市婺城區(qū)夾溪路1678號1號廠房


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            關(guān)鍵詞: 三海產(chǎn)品

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