華為新專利公開:能提高晶圓對(duì)準(zhǔn)效率、精度
近日國(guó)家知識(shí)識(shí)產(chǎn)權(quán)局公告,華為技術(shù)有限公司申請(qǐng)一項(xiàng)名為“晶圓處理裝置和晶圓處理方法”的專利獲批,公開號(hào)CN117219552A,申請(qǐng)日期為2022年6月。
專利摘要顯示,本公開的實(shí)施例涉及晶圓處理裝置和晶圓處理方法。
晶圓處理裝置包括:晶圓載臺(tái),晶圓載臺(tái)可沿旋轉(zhuǎn)軸線旋轉(zhuǎn);機(jī)械臂,包括機(jī)械手,用于搬運(yùn)晶圓并將晶圓放置在晶圓載臺(tái)上;控制器;以及校準(zhǔn)組件。
包括:光柵板,相對(duì)于晶圓載臺(tái)固定;光源,相對(duì)于光柵板固定;以及成像元件,固定設(shè)置在機(jī)械臂上,并且適于接收從光源發(fā)出的、透過光柵板的光。
其中,控制器被配置成基于成像元件對(duì)接收到的光的檢測(cè),控制機(jī)械臂或機(jī)械臂上的調(diào)整裝置來(lái)調(diào)整晶圓的位置。
在晶圓載臺(tái)承載晶圓的情況下,光柵板和成像元件分別位于晶圓載臺(tái)的上表面所在平面相對(duì)兩側(cè),上表面用于承載晶圓。
本公開的實(shí)施例提供的裝置和方法能夠提高晶圓對(duì)準(zhǔn)效率和對(duì)準(zhǔn)精度。
據(jù)悉,截至2022年底,華為持有超過12萬(wàn)項(xiàng)有效授權(quán)專利,主要分布在中國(guó)、歐洲、美洲、亞太、中東和非洲。
其中,華為在中國(guó)和歐洲各持有4萬(wàn)多項(xiàng)專利,在美國(guó)持有22000多項(xiàng)專利。
來(lái)源:快科技
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