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            博客專欄

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            Snubber電路如何解決Buck電路SW過(guò)沖問(wèn)題

            發(fā)布人:yingjian 時(shí)間:2023-07-20 來(lái)源:工程師 發(fā)布文章
            本應(yīng)用報(bào)告首先給出了降壓式開關(guān)電路(buck)在上管開通瞬間的的一個(gè)等效諧振回路模型。根據(jù)該模型推導(dǎo)出使得開關(guān)振鈴最小化的阻容緩沖電路(snubber)的參數(shù)計(jì)算公式,并結(jié)合參數(shù)公式給出了一套 snubber 電路的快速設(shè)計(jì)方法,最后以 LM5119 的 EVM 為例給出了 snubber的設(shè)計(jì)過(guò)程和結(jié)果。

            1、Buck 電路中snubber 的引入和參數(shù)計(jì)算1.1、Snubber 電路的引入由于寄生參數(shù)的存在,開關(guān)電源電路在開關(guān)動(dòng)作瞬間會(huì)產(chǎn)生開關(guān)振鈴。Figure 1 為 buck 電路開關(guān)節(jié)點(diǎn)(兩個(gè)開關(guān)與電感交匯點(diǎn))的典型波形,可見在上管開通瞬間都有不同程度的振鈴。

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            振鈴的存在,可能使得開關(guān)管承受的電壓超過(guò)其耐壓值而發(fā)生擊穿;另一方面,開關(guān)振鈴為遠(yuǎn)超開關(guān)頻率的高頻振鈴,并伴隨很高的 dV/dt,會(huì)帶來(lái)傳導(dǎo)和輻射的 EMI 問(wèn)題,可能會(huì)使得終端產(chǎn)品不能通過(guò) EMI 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試,更嚴(yán)重時(shí)甚至?xí)蓴_開關(guān)電源自身的信號(hào)電路或臨近的其他功能電路的正常工作。所以盡可能地抑制開關(guān)振鈴是開關(guān)電源設(shè)計(jì)中一個(gè)很重要的環(huán)節(jié)。常見的措施,包括布線的優(yōu)化減小線路寄生參數(shù);選用二極管反向特性好的器件;降低開關(guān)速度;在振鈴回路中放置 snubber 等。其中,snubber 是最為常用的手段,特別是在以上其他措施因客觀因素的限制而不能達(dá)到最佳效果時(shí)。Snubber 不僅能改變振鈴頻率,同時(shí)其電容效應(yīng)會(huì)降低開關(guān)節(jié)點(diǎn)的 dV/dt,從而有效抑制 EMI。本文以 LM5119 為實(shí)例討論buck 電路的 snubber 的相關(guān)問(wèn)題,但同樣的設(shè)計(jì)思路和方法可以推導(dǎo)到其他非隔離拓?fù)渲小?.2、包含寄生參數(shù)的振鈴回路等效Figure 2 展示了包含主要寄生電感和電容的 buck 電路,RC snubber(R 和 Csnub)放置在開關(guān)節(jié)點(diǎn)和GND 節(jié)點(diǎn)之間。該電路主要用來(lái)抑制上管開通瞬間的振鈴,而該振鈴正是絕大多數(shù)過(guò)壓?jiǎn)栴}和 EMI 問(wèn)題的源泉。


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            首先由于開關(guān)過(guò)程在極短時(shí)間(從數(shù)個(gè)納秒至數(shù)十個(gè)納秒)完成,在此過(guò)程中電感 L 的電流幾乎不變,故 L 和 Lp2(包括串聯(lián)的 Lp6)不參與振鈴。其次,在振鈴使得幅值超過(guò) Vi后,上管 MOSFET 的溝道已完全打開,CQ被短路,也不參與振鈴。故最終的振鈴回路由圖 3 左虛線方框中電路組成。該電路可等效成圖 3 中 LC 諧振電路,新的 LR和 CR為 Lp1、Lp5,Lp3, Lp4, CD等所有參與振鈴的寄生感容的復(fù)合值。通常 Snubber 的 Csnub取值在數(shù) nF 以上,在振鈴頻率 fR(加了 snubber 后)下的阻抗很小。以Csnub=2.2nF, fR=150MHz 為例,阻抗為 1/(j*2πfR*Csnub)=-0.48j?。而 R 一般在數(shù)歐姆以上,故 figure 3左可進(jìn)一步近似等效為 figure 3 右。


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            1.3、等效模型下的 snubber 參數(shù)計(jì)算由 figure 3 電路,可得到:故為使電路電路為阻尼振鈴,R 的取值為:Figure 4 給出了不同電阻值的仿真對(duì)比。仿真條件為:Lp1=Lp5=10nH,Lp3=Lp4=2nH, Csnub=10nF,CD=200pF


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            同時(shí),Csnub越大,在 RC snubber并聯(lián)到CR后,實(shí)際等效的 CR會(huì)更大,意味著同樣的阻尼電阻對(duì)振鈴抑制效果越好。Figure 5 給出了在相同 R(R=2.2Ohm,其他電路寄生參數(shù)如前文)下,不同 Csnub的仿真結(jié)果。電容越大,抑制振鈴振幅效果越好。而且當(dāng)電容達(dá)到一定程度大小以后,電容的增加給振鈴抑制的效果并不顯著,比如圖 x 中 2500pF 和 3500pF 對(duì)應(yīng)的振幅對(duì)比。究其原因,在 RCsnubber 支路,電路電抗為 R+1/(j*2πfR*Csnub),當(dāng) C 達(dá)到使得 1/(j*2πfR*Csnub)<<R 時(shí),此后 C 的進(jìn)一步增大對(duì)電路幾乎忽略不計(jì)。


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            另一個(gè)不能忽略的方面是,Csnub越大,buck 電路的損耗會(huì)越大,效率會(huì)越差。損耗包括兩個(gè)方面。式(3)為 snubber 電阻上的損耗,可知該損耗正比于電容容值。Figure 6 為上管開通瞬間的驅(qū)動(dòng)電壓和MOSFET 上電流電壓對(duì)應(yīng)關(guān)系。


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            式(4)為 MOSFET 開關(guān)損耗(包括開通和關(guān)斷損耗,并假設(shè)開通關(guān)斷時(shí)間一致),因?yàn)槠渲?t2 隨 Csnub的增大而增大,開關(guān)損耗也隨之增大??梢?,從較小損耗的角度,電容越小越好。設(shè)計(jì)者需要在控制功耗和抑制振鈴之間找到較好的平衡。


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            2、一種實(shí)用快捷的 snubber 設(shè)計(jì)方法2.1、設(shè)計(jì)步驟根據(jù)以上的討論,下文給出一個(gè)基于上文討論等效模型的實(shí)用快捷的緩沖電路設(shè)計(jì)方法。第一步,需要確定圖 figure 3 中的 LR和 CR。首先測(cè)量初始振鈴頻率。然后在 snubber 將要放置的位置上,放置一個(gè) Cadd,如圖 7 所示,因此新的可測(cè)得的振鈴頻率表達(dá)式為:以上兩式中,僅 LR和 CR為未知量,故可通過(guò)兩式聯(lián)立,解得 LR和 CR.


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            第二步,選取合適的 R 值使得 R 值近似于:


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            注意,電阻的封裝應(yīng)考慮散熱。使得電阻功率等級(jí)大于電阻上損耗。電阻損耗表達(dá)式為,


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            第三步,選擇合適的電容值 Csnub。如前文所說(shuō),電容值的選擇是振幅抑制和控制損耗的折中。可選擇以式(11)作為起點(diǎn),根據(jù)損耗情況和振幅抑制效果,進(jìn)行進(jìn)一步的調(diào)整:增大電容抑制振幅,減小電容提高效率。


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            2.2、LM5119 EVM 緩沖電路設(shè)計(jì)實(shí)例以 LM5119 EVM 為例,測(cè)試條件為 VIN=16V, VOUT=10V, IOUT=1A。第一步,通過(guò)示波器讀出開關(guān)上升沿波形,如 figure 8??芍?,f1=93MHz。


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            在 EVM 原有的空置的snubber 位置上增加一個(gè)新的 220pF 的電容后。新的波形如 figure 9,f2=75MHz。故可解得 LR=7.5nH,CR=387pF。


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            由式(9)得:


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            故可取 R=2.2 歐姆再由式(11)。選擇接近的 Csnub=3.3nF。最后得到的振鈴波形如 figure 10 所示,可見振鈴幅度大大減弱。另外,值得注意的是,該實(shí)驗(yàn)結(jié)果效果比仿真結(jié)果略差。主要原因是 snubber 本身也會(huì)導(dǎo)入寄生電感,削弱了 snubber 的效果。因此在實(shí)際的操作中,snubber 電路需要盡量選擇高頻特性好的電阻電容。


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