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            博客專欄

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            車載濾波器組件焊錫開裂失效分析

            發(fā)布人:新陽檢測 時(shí)間:2023-05-03 來源:工程師 發(fā)布文章
            案例背景



            車載濾波器組件在可靠性試驗(yàn)后,主板上的插件引腳焊點(diǎn)發(fā)生開裂異常。


            分析過程


            焊點(diǎn)外觀



            說明:插件器件引腳呈現(xiàn)出明顯的焊點(diǎn)開裂狀態(tài)。


            X-RAY檢測


            針對異常焊點(diǎn)的X-RAY檢測:



            說明:通孔(支撐孔)的透錫率僅20%左右,遠(yuǎn)低于正常值75%。


            針對正常焊點(diǎn)的X-RAY檢測:



            說明:該批次正常品焊點(diǎn)通孔的透錫率與異常焊點(diǎn)一致。


            切片斷面分析


            #01 金相分析


            針對異常焊點(diǎn)的金相分析:


            說明:異常焊點(diǎn)的斷面金相圖示表明焊錫填充不足,存在較明顯的少錫與疲勞開裂的特征。


            針對正常焊點(diǎn)的金相分析:


            說明:正常焊點(diǎn)的斷面金相分析顯示,焊錫填充不足,存在明顯的少錫異常,DIP焊盤端焊錫、PCB與引腳處有明顯的潤濕。


            #02 SEM分析


            針對異常焊點(diǎn)的SEM分析:



            說明:異常焊點(diǎn)PCB已潤濕位置的合金層IMC測量結(jié)果顯示,其厚度均在0.5μm以下,數(shù)值明顯偏低。未焊錫的孔壁與端子部位皆無異常。


            針對正常焊點(diǎn)的SEM分析:



            說明:正常焊點(diǎn)PCB已潤濕位置的合金層IMC的厚度均在0.5μm以下,數(shù)值明顯偏低。


            分析結(jié)果


            結(jié)合焊點(diǎn)失效背景,以及各項(xiàng)檢測結(jié)果,對插件器件引腳焊點(diǎn)開裂,作出如下綜合分析:

            1.插件器件引腳焊接存在嚴(yán)重的支撐孔透錫不足現(xiàn)象,透錫率僅在20%左右,遠(yuǎn)低于75%以上的標(biāo)準(zhǔn);

            2.焊點(diǎn)開裂主要發(fā)生在焊錫間,其斷面形貌符合焊點(diǎn)疲勞開裂的特征;

            3.通過對失效焊點(diǎn)與正常焊點(diǎn)焊接IMC的分析,它們的IMC層厚度也遠(yuǎn)低于正常的IMC層厚度(1.5μm-4.0μm)。

            由此可以判斷,器件DIP焊接時(shí),工藝條件不足,未形成良好焊接。


            改善方案


            優(yōu)化DIP焊接工藝條件

            原因:插件器件引腳DIP焊接時(shí),工藝條件不足(浸錫時(shí)間、浸入深度等),導(dǎo)致通孔透錫率低,焊點(diǎn)可靠性差。在可靠性試驗(yàn)時(shí),由于應(yīng)力集中于較小的焊點(diǎn)上,導(dǎo)致焊點(diǎn)疲勞斷裂。


            通孔透錫不足

            通孔透錫不足

            IMC厚度不足


            方法:滿足通孔透錫率至少達(dá)到50%以上,焊接IMC層厚度1.5μm以上;


            優(yōu)化PCBA與組裝件點(diǎn)膠固定的應(yīng)力作用

            原因:該產(chǎn)品目前在PCBA與組裝外殼之間使用的點(diǎn)膠,硬化后是硬質(zhì)的、無韌性與彈性。

            在組件發(fā)生振動時(shí),其應(yīng)力會直接通過硬膠傳導(dǎo)至外殼,再作用至焊點(diǎn)上,存在應(yīng)力疲勞損傷的隱患。


            方法:PCBA與組裝外殼之間的點(diǎn)膠更換為固化后更有韌性與彈性的硅膠材質(zhì),緩沖外部應(yīng)力對焊點(diǎn)的影響。


            新陽檢測中心有話說:


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