1AEC-Q認(rèn)證是國際汽車電子領(lǐng)域的準(zhǔn)入門檻

AEC即Automotive Electronics Council，是美國汽車電子委員會(huì)的簡(jiǎn)稱。AEC由克萊斯勒，福特和通用汽車發(fā)起并創(chuàng)立于1994年，目前會(huì)員遍及全球各大汽車廠、汽車電子和半導(dǎo)體廠商，符合AEC規(guī)范的零部件均可被上述三家車廠同時(shí)采用，促進(jìn)了零部件制造商交換其產(chǎn)品特性數(shù)據(jù)的意愿，并推動(dòng)了汽車零件通用性的實(shí)施，為汽車零部件市場(chǎng)的快速成長打下基礎(chǔ)。AEC-Q為AEC組織所制訂的車用可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，是零件廠商進(jìn)入汽車電子領(lǐng)域，打入一級(jí)車廠供應(yīng)鏈的重要門票。

AEC-Q100是AEC的第一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)，主要是針對(duì)車載應(yīng)用的集成電路產(chǎn)品所設(shè)計(jì)出的一套應(yīng)力測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，此規(guī)范對(duì)于提升產(chǎn)品信賴性品質(zhì)保證相當(dāng)重要。AEC-Q100是預(yù)防可能發(fā)生各種狀況或潛在的故障狀態(tài)，對(duì)每一個(gè)芯片進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量與可靠度確認(rèn)，特別對(duì)產(chǎn)品功能與性能進(jìn)行標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范測(cè)試。

2要求通過AEC-Q100標(biāo)準(zhǔn)的車用集成電路IC

單顆IC，如MCU芯片、MPU芯片、存儲(chǔ)類芯片、計(jì)算類芯片、安全類芯片、LED類驅(qū)動(dòng)芯片、電源芯片、運(yùn)算放大器、比較器、感知用模擬芯片、通信類芯片等

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AEC-Q100車用IC產(chǎn)品驗(yàn)證流程

4AEC-100測(cè)試項(xiàng)目分組

• 群組A--加速環(huán)境應(yīng)力測(cè)試(PC、THB/HAST/AC、UHST/TH、TC、PTC、HTSL)共6項(xiàng)測(cè)試

• 群組B--加速生命周期模擬測(cè)試(HTOL、ELFR、EDR)--共3項(xiàng)測(cè)試

• 群組C--封裝組裝完整性測(cè)試(WBS、WBP、SD、PD、SBS、LI)--共6項(xiàng)測(cè)試

• 群組D--芯片制造可靠性測(cè)試(EM、TDDB、HCI、NBTI、SM)--共5項(xiàng)測(cè)試

• 群組E--電性驗(yàn)證測(cè)試(TEST、HBM/MM、CDM、LU、ED、FG、CHAR、EMC、SC、SER、LF)--共11項(xiàng)測(cè)試

• 群組F--缺陷篩選測(cè)試(PAT、SBA)--共2項(xiàng)測(cè)試

• 群組G--腔體封裝完整性測(cè)試(MS、VFV、CA、GFL、DROP、LT、DS、IWV)--共8項(xiàng)測(cè)試

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華碧能力范圍及AEC-100技術(shù)要求

關(guān)于華碧實(shí)驗(yàn)室

華碧實(shí)驗(yàn)室是國內(nèi)領(lǐng)先的集檢測(cè)、鑒定、認(rèn)證和研發(fā)為一體的第三方檢測(cè)與分析的新型綜合實(shí)驗(yàn)室，擁有豐富的車規(guī)級(jí)電子認(rèn)證經(jīng)驗(yàn)，已成功幫助300多家企業(yè)順利通過AEC-Q系列認(rèn)證，通過AEC-Q100對(duì)每一個(gè)芯片個(gè)案進(jìn)行嚴(yán)格的質(zhì)量與可靠度確認(rèn)。

華碧實(shí)驗(yàn)室以車企車規(guī)芯片國產(chǎn)化需求為牽引，依托國產(chǎn)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)基礎(chǔ)，提供完善的檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)，通過AEC-Q100車用標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格把控汽車芯片安全質(zhì)量，助力國產(chǎn)車規(guī)級(jí)芯片大力發(fā)展，為打造智能汽車安全體系再添新動(dòng)力。

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