EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
test&measurement
test&measurement 文章 進(jìn)入test&measurement技術(shù)社區(qū)
基于PXI和LabVIEW的FCT(Functional Circuit Test)
- 挑戰(zhàn)：通過(guò)PXI 控制板卡和LabVIEW軟件，構(gòu)建一套比較完整齊全的PCB板的功能測(cè)試(FCT)系統(tǒng)，利用該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)音頻視頻以及各種靜態(tài)參數(shù)（電壓、電流、頻率）的綜合性全自動(dòng)測(cè)試，對(duì)于新開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的PCB板，工廠無(wú)需頻
- 關(guān)鍵字： Functional LabVIEW Circuit Test
NI今日發(fā)布 Measurement Studio 2009
- 美國(guó)國(guó)家儀器有限公司(National Instruments，簡(jiǎn)稱NI)于今日發(fā)布了Measurement Studio 2009，幫助使用Microsoft Visual Studio 2008、Visual Studio 2005或Visual Studio .NET 2003的工程師縮短創(chuàng)建測(cè)試及測(cè)量應(yīng)用的開(kāi)發(fā)時(shí)間。Measurement Studio 2009通過(guò)提供集成 I/O支持、本地庫(kù)和用戶界面更新等功能簡(jiǎn)化了數(shù)據(jù)采集、分析和顯示。軟件引入了對(duì)最新PC技術(shù)的支持，包括64位 .NET應(yīng)
- 關(guān)鍵字： NI 軟件 Measurement Studio
NI發(fā)布Measurement Studio 8.1，進(jìn)一步簡(jiǎn)化遠(yuǎn)程監(jiān)控功能的操作
- 工程師們現(xiàn)在可以輕松實(shí)現(xiàn)對(duì)于分布式測(cè)試系統(tǒng)的遠(yuǎn)程監(jiān)控 美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱NI）宣布了Measurement Studio8.1版本的發(fā)布，這是一套基于Micorsoft Visual Studio，并專用于測(cè)試、測(cè)量和自動(dòng)化應(yīng)用的完整類庫(kù)和用戶界面控件。Measurement Studio 8.1簡(jiǎn)化和加速了使用全新網(wǎng)絡(luò)變量的遠(yuǎn)程監(jiān)控過(guò)程，這些網(wǎng)絡(luò)變量幫助工程師在Microsoft&n
- 關(guān)鍵字： 8.1 Measurement NI Studio 測(cè)量 測(cè)試 遠(yuǎn)程監(jiān)控功能
NI發(fā)布Measurement Studio 8.1簡(jiǎn)化遠(yuǎn)程監(jiān)控功能的操作
- NI發(fā)布Measurement Studio 8.1，進(jìn)一步簡(jiǎn)化遠(yuǎn)程監(jiān)控功能的操作 工程師們現(xiàn)在可以輕松實(shí)現(xiàn)對(duì)于分布式測(cè)試系統(tǒng)的遠(yuǎn)程監(jiān)控 美國(guó)國(guó)家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱NI）宣布了Measurement Studio8.1版本的發(fā)布，這是一套基于Micorsoft Visual Studio，并專用于測(cè)試、測(cè)量和自動(dòng)化應(yīng)用的完整類庫(kù)和用戶界面控件。Measurement Studio 8.
- 關(guān)鍵字： 8.1 Measurement NI Studio 簡(jiǎn)化遠(yuǎn)程監(jiān)控功能 通訊 網(wǎng)絡(luò) 無(wú)線 消費(fèi)電子 消費(fèi)電子
科利登獲《測(cè)試與測(cè)量世界》Best in Test Award
- 科利登系統(tǒng)有限公司(Credence Systems Corporation, 納斯達(dá)克代碼：CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系統(tǒng)榮獲2006年度《測(cè)試與測(cè)量世界》雜志授予的”Best in Test award”（譯：最佳測(cè)試獎(jiǎng)）獎(jiǎng)項(xiàng)。 Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費(fèi)類芯片測(cè)試系統(tǒng)。Sapphire D-10是一款極緊湊的測(cè)試系統(tǒng)，它采用先進(jìn)科技，集成了更多更好的特性功能。Sapph
- 關(guān)鍵字： Award Best in Test 測(cè)試與測(cè)量世界 科利登 測(cè)試測(cè)量
test&measurement介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng)建詞條test&measurement!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)test&measurement的理解，并與今后在此搜索test&measurement的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)test&measurement的理解，并與今后在此搜索test&measurement的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
test&measurement相關(guān)帖子
test&measurement資料下載
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國(guó)際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473