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            EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> tdi-ccd

            光電探測(cè)器陣列CCD轉(zhuǎn)移特性

            • 為了減小氧化層殘余電荷引起界面陷阱中心使載流子消失以提高轉(zhuǎn)移效率,可以在氧化層和襯底之間增加一層隱埋層使轉(zhuǎn)移溝道從表面移向體內(nèi)。由圖1(b)可以看出,勢(shì)能極小值脫離了界面進(jìn)入了體內(nèi),避免了表面態(tài)的影響,因
            • 關(guān)鍵字: 轉(zhuǎn)移  特性  CCD  陣列  探測(cè)器  光電  

            雙路CCD高精度線紋位置實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)

            • 摘 要: 討論了用電荷耦合器件對(duì)線紋進(jìn)行非接觸測(cè)量定位的理論與方法介紹了一種以MCS-51單片機(jī)為核心、利用雙端口RAM技術(shù)和高速A/D實(shí)現(xiàn)CCD信號(hào)高速數(shù)據(jù)同步采集的系統(tǒng)及其應(yīng)用。關(guān)鍵詞: 線陣CCD 高速A/D 實(shí)時(shí)監(jiān)控
            • 關(guān)鍵字: 實(shí)時(shí)  監(jiān)控系統(tǒng)  位置  高精度  CCD  雙路  

            寬動(dòng)態(tài)監(jiān)控?cái)z像機(jī)CCD/CMOS-DSP解析

            • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
            • 關(guān)鍵字: DSP  CCD  CMOS+DPS  

            CCD和CMOS圖像傳感器性能的幾大技術(shù)指標(biāo)

            • CCD和CMOS是圖像傳感器的兩個(gè)主要類別,都有各自的應(yīng)用領(lǐng)域。但近年來,CMOS傳感器逐步吞噬了CCD的市場(chǎng)。為什么CMOS傳感器如此受歡迎呢?評(píng)價(jià)一款圖像傳感器性能的技術(shù)指標(biāo)有哪些?下面來為大家詳細(xì)說明。CCD和CMOS圖
            • 關(guān)鍵字: 性能  技術(shù)指標(biāo)  傳感器  圖像  CMOS  CCD  

            淺析CMOS與CCD在內(nèi)部結(jié)構(gòu)與原理的差異

            • 標(biāo)簽:CMOS CCD無論任何產(chǎn)品,品質(zhì)的好壞主要取決于性能的優(yōu)劣,而性能優(yōu)劣的關(guān)鍵跟產(chǎn)品結(jié)構(gòu)和工作原理又有著較大的關(guān)系,CCD和CMOS也既如此。基本組成CCD是在MOS晶體管的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的,其基本結(jié)構(gòu)是MOS(金屬m
            • 關(guān)鍵字: 原理  差異  結(jié)構(gòu)  內(nèi)部  CMOS  CCD  淺析  

            CMOS與CCD圖像傳感器特性對(duì)比分析

            • CCD(Charge Coupled Device)圖像傳感器(以下簡(jiǎn)稱CCD)和CMOS圖像傳感器(CMOS Image Sensor以下簡(jiǎn)稱CIS)的主要區(qū)別是由感光單元及讀出電路結(jié)構(gòu)不同而導(dǎo)致制造工藝的不同。CCD感光單元實(shí)現(xiàn)光電轉(zhuǎn)換后,以電荷的方
            • 關(guān)鍵字: 對(duì)比  分析  特性  傳感器  CCD  圖像  CMOS  

            基于CPLD的線陣CCD數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的開發(fā)

            • 本文結(jié)合實(shí)際應(yīng)用需要,設(shè)計(jì)了基于復(fù)雜可編程邏輯器件(CPLD)的線陣CCD數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。著重介紹了數(shù)據(jù)采集的特點(diǎn)及該系統(tǒng)軟、硬件設(shè)計(jì)和最后的性能評(píng)價(jià)。線陣CCD(Charge Coupled Device)越來越廣泛地被應(yīng)用到工業(yè)、軍事
            • 關(guān)鍵字: CPLD  CCD  線陣  數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)    

            滾珠螺母形位誤差的CCD測(cè)量

            • 1 引 言滾珠螺母是滾珠絲杠副的內(nèi)螺紋元件,它的精度直接影響滾珠絲杠副的傳動(dòng)質(zhì)量。因其摩擦小、效率高、運(yùn)行平穩(wěn)、壽命長(zhǎng)、可逆?zhèn)鲃?dòng)及零間隙等優(yōu)點(diǎn),廣泛應(yīng)用于精密機(jī)械、機(jī)床、汽車、船舶、航空航天及計(jì)算機(jī)等行業(yè)
            • 關(guān)鍵字: CCD  滾珠螺母  測(cè)量  誤差    

            基于單片機(jī)的線陣CCD驅(qū)動(dòng)及采集系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

            • 摘要:文章介紹一種新型的基于單片機(jī)的線陣CCD驅(qū)動(dòng)電路的設(shè)計(jì)。系統(tǒng)通過C8051F020型單片機(jī)作為下位機(jī),完成CCD驅(qū)動(dòng)、信號(hào)采集以及與計(jì)算機(jī)(上位機(jī))通訊等工作。這種方案切實(shí)有效地解決了CCD驅(qū)動(dòng)脈沖復(fù)雜、頻率要求較
            • 關(guān)鍵字: 系統(tǒng)  設(shè)計(jì)  采集  驅(qū)動(dòng)  單片機(jī)  CCD  基于  

            CMOS探測(cè)器在射線檢測(cè)中的應(yīng)用

            • 1CMOS探測(cè)器簡(jiǎn)介射線檢測(cè)技術(shù)利用X射線探測(cè)材料內(nèi)部的不連續(xù)性,并在記錄介質(zhì)上顯示出圖像。隨著技術(shù)的不...
            • 關(guān)鍵字: CCD  成像單元  CMOS探測(cè)器  

            什么是CCD傳感器

            • 電荷藕合器件圖像傳感器CCD(Charge Coupled Device),它使用一種高感光度的半導(dǎo)體材料制成,能把光線轉(zhuǎn)變成電荷,通過模數(shù)轉(zhuǎn)換器芯片轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào),數(shù)字信號(hào)經(jīng)過壓縮以后由相機(jī)內(nèi)部的閃速存儲(chǔ)器或內(nèi)置硬盤卡保存
            • 關(guān)鍵字: 傳感器  CCD  什么  

            CCD傳感器與CMOS傳感器區(qū)別在哪里

            • CMOS針對(duì)CCD最主要的優(yōu)勢(shì)就是非常省電,不像由二極管組成的CCD,CMOS 電路幾乎沒有靜態(tài)電量消耗,只有在電路接通時(shí)才有電量的消耗。這就使得CMOS的耗電量只有普通CCD的1/3左右,這有助于改善人們心目中數(shù)碼相機(jī)是ld
            • 關(guān)鍵字: 傳感器  哪里  區(qū)別  CMOS  CCD  

            基于DSP的CCD物體重量實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)的研究方案

            • 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò)家園
            • 關(guān)鍵字: DSP  CCD  物體重量  動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè)  

            基于CCD的新型檢測(cè)戶外全彩LED顯示屏的方法

            • LED(LightEmittingDiode,發(fā)光二極管)是當(dāng)今世界發(fā)展最為快速的產(chǎn)業(yè)之一。LED高亮度、低能耗、長(zhǎng)壽命的特點(diǎn)使得LED顯示屏在戶外平板顯示領(lǐng)域優(yōu)勢(shì)明顯。但是,LED間存在的光、電學(xué)特性差異通常會(huì)引起LED顯示屏亮度、
            • 關(guān)鍵字: LED  顯示屏  方法  全彩  戶外  CCD  新型  檢測(cè)  基于  
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