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            ARM RVDS - C++test Window下的測(cè)試

            • ARM RVDS - C++test Window下 測(cè)試一
            • 關(guān)鍵字: Window  RVDS  test  ARM    

            Test Advantage 收購(gòu)Microstats

            • ?? Boston Semi Equipment Group(BSE 集團(tuán))旗下公司 Test Advantage 宣布已經(jīng)收購(gòu)了位于菲律賓的一家面向自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE) 市場(chǎng)的硬件維修中心 Microstats, LLC。這兩家公司將整合它們的產(chǎn)品、解決方案和共同的客戶群,以增強(qiáng) Test Advantage 在后端半導(dǎo)體市場(chǎng)的產(chǎn)品和服務(wù)。 ???
            • 關(guān)鍵字: Test Advantage   Microstats  自動(dòng)測(cè)試設(shè)備  

            基于PXI和LabVIEW的FCT(Functional Circuit Test)

            • 挑戰(zhàn):通過(guò)PXI 控制板卡和LabVIEW軟件,構(gòu)建一套比較完整齊全的PCB板的功能測(cè)試(FCT)系統(tǒng),利用該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)對(duì)音頻視頻以及各種靜態(tài)參數(shù)(電壓、電流、頻率)的綜合性全自動(dòng)測(cè)試,對(duì)于新開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的PCB板,工廠無(wú)需頻
            • 關(guān)鍵字: Functional  LabVIEW  Circuit  Test    

            科利登獲《測(cè)試與測(cè)量世界》Best in Test Award

            • 科利登系統(tǒng)有限公司(Credence Systems Corporation, 納斯達(dá)克代碼:CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系統(tǒng)榮獲2006年度《測(cè)試與測(cè)量世界》雜志授予的”Best in Test award”(譯:最佳測(cè)試獎(jiǎng))獎(jiǎng)項(xiàng)。 Sapphire D-10是下一代成本敏感型消費(fèi)類(lèi)芯片測(cè)試系統(tǒng)。Sapphire D-10是一款極緊湊的測(cè)試系統(tǒng),它采用先進(jìn)科技,集成了更多更好的特性功能。Sapph
            • 關(guān)鍵字: Award  Best  in  Test  測(cè)試與測(cè)量世界  科利登  測(cè)試測(cè)量  
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