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JTAG接口解讀

通常所說的JTAG大致分兩類，一類用于測試芯片的電氣特性，檢測芯片是否有問題；一類用于Debug；一般支持JTAG的CPU內(nèi)都包含了這兩個模塊。一個含有JTAG Debug接口模塊的CPU，只要時鐘正常，就可以通過JTAG接口訪問CPU的內(nèi)部寄存器和掛在CPU總線上的設備，如FLASH，RAM，SOC（比如4510B，44Box，AT91M系列）內(nèi)置模塊的寄存器，象UART，Timers，GPIO等等的寄存器。上面說的只是JTAG接口所具備的能力，要使用這些功能，還需
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JTAG測試技術(shù)

2004年11月JTAG Technology JTAG(聯(lián)合測試行動組)標準在80代是通用的。JTAG技術(shù)實際上稱之為IEEE1149.1或邊界掃描，由于電子行業(yè)幾乎每個人都熟悉“JTAG”這個名稱，所以“JTAG”用來表示IEEE1149.1技術(shù)。電路內(nèi)測試器測試復雜板的老方法是用電路內(nèi)測試器(ICT)。這種測試方法的測試頭是用“釘床”(見圖1)，焊節(jié)點和遮蓋的焊球使得這種測
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JTAG口及其對Flash的在線編程

JTAG口及其對Flash的在線編程,介紹JTAG的定義、結(jié)構(gòu)及引腳的定義，并闡述JTAG狀態(tài)機的工作原理。
關(guān)鍵字：編程在線 Flash 及其 JTAG

Trimedia DSP芯片JTAG接口的仿真器設計

提出Trimedia DSP芯片硬件仿真器的硬件電路組成和接口軟件設計；介紹JTAG接口的標準、工作原理及在芯片中的實現(xiàn)。
關(guān)鍵字：仿真器設計接口 JTAG DSP 芯片 Trimedia

通過JTAG口對DSP外部Flash存儲器的在線編程

采用一種簡單可行的方法，在TI公司TMS320C6X DSP集成開發(fā)環(huán)境CCS2.0下，通過JTAG口實現(xiàn)對DSP外部Flash可擦寫存儲器的在線編程。
關(guān)鍵字：存儲器在線編程 Flash 外部 JTAG 口對 DSP 通過

邊界掃描與電路板測試技術(shù)

摘要：本文論述了邊界掃描技術(shù)的基本原理和邊界掃描在電路板測試及在FPGA、DSP器件中的應用。介紹了為提高電路板的可測試性而采用邊界掃描技術(shù)進行設計時應注意的一些基本要點。關(guān)鍵詞：邊界掃描測試；JTAG；電路板測試；可測試性設計引言電子器件的生產(chǎn)商和電子產(chǎn)品的制造商都在傾向于采用最新的器件技術(shù)，如BGA、CSP(芯片規(guī)模封裝)、TCP(倒裝芯片封裝)和其它更小的封裝，以提供更強的功能、更小的體積，并節(jié)省成本。電路板越來越密、器件越來越復雜、電路性能要求越來越苛刻，越來越難的接入問題導致了工業(yè)標準
關(guān)鍵字： JTAG 邊界掃描測試電路板測試可測試性設計 PCB 電路板

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jtag介紹

　　JTAG是英文“Joint Test Action Group（聯(lián)合測試行為組織）”的詞頭字母的簡寫，該組織成立于1985 年，是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測試標準。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準為IEEE1149.1-1990 測試訪問端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標準。該標準規(guī)定了進行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準后，IEEE 分別于1993 年和 [ 查看詳細 ]