ic測試 文章 進(jìn)入ic測試技術(shù)社區(qū)
IC測試趨向整合 本土廠商期待作為
- “從目前看，國外IC測試設(shè)備廠商之間的并購，對國內(nèi)用戶來說不是好消息，設(shè)備過分集中在大公司手中，會使我們采購設(shè)備價格的談判余地更小。”這是中國電子標(biāo)準(zhǔn)化研究所副總工程師、集成電路測試驗證實驗室主任陳大為日前就IC測試設(shè)備大廠愛德萬有意兼并惠瑞捷一事發(fā)表的看法。由此看來，擺脫對國外測試設(shè)備的依賴，發(fā)展本土IC測試設(shè)備業(yè)，滿足國內(nèi)快速發(fā)展的集成電路產(chǎn)業(yè)需求迫在眉睫。 高端IC測試設(shè)備國際大廠絕對領(lǐng)先 測試業(yè)作為IC產(chǎn)業(yè)的重要一環(huán)，其生存和發(fā)展與IC產(chǎn)業(yè)息息相關(guān)。世界先進(jìn)
- 關(guān)鍵字： 惠瑞捷 IC測試
IC測試的創(chuàng)新
- EDA工具加速IC測試 隨著IC制程節(jié)點從90nm向65nm和45nm延伸，需要測試的數(shù)據(jù)量會激增，相應(yīng)地會帶來測試成本的提高(圖1)。例如，從90nm到65nm時，由于增加了門數(shù)，傳統(tǒng)的測試量急劇增加;同時，在速(at-speed)測試也成倍增加，這是由于時序和信號完整性的敏感需求;到了45nm時代，在前兩者的基礎(chǔ)上，又增加了探測新缺陷的測試。 為了提高測試效率，對測試數(shù)據(jù)的壓縮持續(xù)增長。據(jù)ITRS(國際半導(dǎo)體技術(shù)發(fā)展路線圖)預(yù)測(圖2)，2010年的壓縮需求比2009年翻番。
- 關(guān)鍵字： EDA IC測試 65nm 45nm 201001
MEMS設(shè)備需求起 臺廠實力還需加強
- 微機電(MEMS)前景看好，設(shè)備商機更誘人，但由于MEMS產(chǎn)品高度客制化的特性，在測試設(shè)備上不若以往的IC制程，有一套標(biāo)準(zhǔn)化的流程，因此在開發(fā)MEMS設(shè)備時，不僅需有硬件的底子，更加強調(diào)所謂的軟實力，也就是軟件開發(fā)，這對臺系設(shè)備廠來說，恐怕將是一大挑戰(zhàn)。 臺系設(shè)備廠跨入MEMS領(lǐng)域者少之又少，在測試領(lǐng)域目前只有致茂切入，從致茂的發(fā)展歷程來看，由過去在電力電子領(lǐng)域建立基礎(chǔ)，其IC測試設(shè)備不同于同業(yè)使用通用模式設(shè)計，而是針對客戶客制化設(shè)計，與同業(yè)最不同的在于強調(diào)Turnkey Solution，提供
- 關(guān)鍵字： 微機電 MEMS IC測試
簡易鋰電池保護IC測試電路的設(shè)計
- 由于鋰電池的體積密度、能量密度高，并有高達(dá)4.2V的單節(jié)電池電壓，因此在手機、PDA和數(shù)碼相機等便攜式電子產(chǎn)品中獲得了廣泛的應(yīng)用。為了確保使用的安全性，鋰電池在應(yīng)用中必須有相應(yīng)的電池管理電路來防止電池的過充電、過放電和過電流。鋰電池保護IC超小的封裝和很少的外部器件需求使它在單節(jié)鋰電池保護電路的設(shè)計中被廣泛采用。 然而，目前無論是正向（獨立開發(fā)）還是反向（模仿開發(fā)）設(shè)計的國產(chǎn)鋰電池保護IC由于技術(shù)、工藝的原因，實際參數(shù)通常都與標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)有較大差別，在正向設(shè)計的IC中尤為突出，因此，測試鋰電池保護IC的實際工
- 關(guān)鍵字： IC測試 鋰電池
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