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便攜式產(chǎn)品ESD的測量技術(shù)
- 電子系統(tǒng)的靜電放電(ESD)魯棒性性能測試通常采用IEC 61000-4-2作為標準。這個標準定義了每個電壓等級下的沖擊電流波形、如何校準ESD脈沖源、用于測量的測試環(huán)境、測試通過與失敗的判據(jù)，此外還提供了如何進行測試的指
- 關(guān)鍵字： ESD 便攜式產(chǎn)品 測量技術(shù)
Vishay推出新款4線總線端口保護陣列
- 除了能節(jié)省電路板空間，4線VBUS54ED-FBL采用了“滲流”設(shè)計，這種設(shè)計支持筆記本電腦、手機、MP3播放器和便攜式游戲機等移動式電子產(chǎn)品中USB 3.0、HDMI、DisplayPort、eSATA和1394/Firewire等應(yīng)用中高速數(shù)據(jù)線對浪涌電阻的要求。
- 關(guān)鍵字： Vishay ESD VBUS54ED-FBL
安森美半導體完整ESD及EMI保護方案
- 對于電子產(chǎn)品而言，保護電路是為了防止電路中的關(guān)鍵敏感型器件受到過流、過壓、過熱等沖擊的損害。保護電路的優(yōu)劣對電子產(chǎn)品的質(zhì)量和壽命至關(guān)重要。隨著消費類電子產(chǎn)品需求的持續(xù)增長，更要求有強固的靜電放電(ESD)保護，同時還要減少不必要的電磁干擾(EMI)/射頻干擾(RFI)噪聲。此外，消費者希望最新款的消費電子產(chǎn)品可以用小尺寸設(shè)備滿足越來越高的下載和帶寬能力。隨著設(shè)備的越來越小和融入性能的不斷增加，ESD以及許多情況下的EMI/RFI抑制已無法涵蓋在驅(qū)動所需接口的新一代IC當中。
- 關(guān)鍵字： 安森美 ESD EMI IEC61000-4-2
中芯國際2011年技術(shù)研討會于上海揭幕
- 中芯國際集成電路制造有限公司 （“中芯國際”，紐約證券交易所：SMI 和香港聯(lián)交所：0981.HK），中國內(nèi)地規(guī)模最大、技術(shù)最先進的集成電路晶圓代工企業(yè)，今日舉辦成立以來的第十一屆技術(shù)研討會。今年計劃于中國舉辦三場技術(shù)研討會，首場于今日在上海開幕。會上展示了中芯國際最先進的制造技術(shù)，IP 設(shè)計以及應(yīng)用平臺、IP和Library 解決方案、ESD保護設(shè)計方法以及設(shè)計服務(wù)等等。共計吸引了超過300位來自全球各地的客戶、設(shè)計服務(wù)公司、技術(shù)合作伙伴與供應(yīng)商等參與盛會。
- 關(guān)鍵字： 中芯國際 晶圓 ESD
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