teststand 文章 進(jìn)入teststand技術(shù)社區(qū)
在受控生產(chǎn)環(huán)境下使用LabVIEW、NI TestStand和PXI測(cè)試醫(yī)療血糖儀和胰島素輸送系統(tǒng)
- NI的解決方案為此應(yīng)用帶來了許多益處。 首先，NI VSA/VSG解決方案速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于同類的臺(tái)式儀器 - 如果使用傳統(tǒng)的臺(tái)式儀器，測(cè)試時(shí)間將會(huì)更長。ndash; Matthew Kelton, Advanced Instrument Technologies
The Chal - 關(guān)鍵字： TestStand LabVIEW PXI 生產(chǎn)環(huán)境
NI亮相2016Semicon中國半導(dǎo)體展, 推出增強(qiáng)版半導(dǎo)體測(cè)試管理軟件
- NI (美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI) 作為致力于為工程師和科學(xué)家提供解決方案來應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的供應(yīng)商，今日亮相2016 Semicon中國半導(dǎo)體展，并宣布推出TestStand半導(dǎo)體模塊，為測(cè)試系統(tǒng)工程師提供了所需的軟件工具來快速開發(fā)、部署和維護(hù)半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)?！ 〗柚鶷estStand半導(dǎo)體模塊，工程師可以采用與在生產(chǎn)車間部署半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)(STS) 一樣的編程方法在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行特性分析，從而減少了關(guān)
- 關(guān)鍵字： NI TestStand
NI TestStand 2012采用新的模塊化框架
- 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 NI)近日發(fā)布全新版本的自動(dòng)化測(cè)試管理軟件 —— NI TestStand 2012。憑借其全新的模塊化流程架構(gòu)，NI TestStand 2012幫助工程師提升了自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的靈活性和吞吐量。新的模塊化架構(gòu)讓測(cè)試設(shè)置變得更為容易，擴(kuò)展了測(cè)試和報(bào)告的靈活性，讓工程師可在并行測(cè)試中同時(shí)進(jìn)行這兩項(xiàng)任務(wù)。
- 關(guān)鍵字： NI TestStand 測(cè)試系統(tǒng)
基于NI TestStand 和LabVIEW 開發(fā)模塊化的軟件架構(gòu)
- 行業(yè)趨勢(shì)：當(dāng)今市場上的挑戰(zhàn)當(dāng)今企業(yè)所面臨的挑戰(zhàn)之一是測(cè)試成本越來越高。由于設(shè)備的復(fù)雜性不斷增加，所以...
- 關(guān)鍵字： LabVIEW 自動(dòng)化測(cè)試 NI TestStand
在受控生產(chǎn)環(huán)境下使用LabVIEW、NI TestStand和PXI
- NI的解決方案為此應(yīng)用帶來了許多益處。 首先，NI VSA/VSG解決方案速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于同類的臺(tái)式儀器 - 如果使用傳統(tǒng)的臺(tái)式儀器，測(cè)試時(shí)間將會(huì)更長。ndash; Matthew Kelton, Advanced Instrument Technologies
The Chal - 關(guān)鍵字： TestStand LabVIEW PXI 生產(chǎn)環(huán)境
全新NI TestStand 2010推出，更強(qiáng)大的測(cè)試軟件開發(fā)工具進(jìn)一步增強(qiáng)團(tuán)隊(duì)合作支持
- 美國國家儀器公司(National Instruments，簡稱NI)近日推出最新版NI TestStand 2010。NI TestStand是一款廣泛用于自動(dòng)化驗(yàn)證和生產(chǎn)測(cè)試的測(cè)試管理軟件，能夠幫助測(cè)試工程師創(chuàng)建強(qiáng)大的軟件架構(gòu)，加速測(cè)試序列的開發(fā)，并降低各測(cè)試站測(cè)試執(zhí)行軟件的維護(hù)成本。這一最新版軟件新增了許多新特性，可以更好地適應(yīng)團(tuán)隊(duì)合作開發(fā)。這些特性包括測(cè)試序列分析器、測(cè)試序列整合功能、對(duì)最新PC技術(shù)的支持等，以及與NI LabVIEW圖形化系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟件的高級(jí)集成，非常適合于通信、消費(fèi)電子、汽車
- 關(guān)鍵字： NI TestStand
NI 推出NI TestStand ATML工具包
- 美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)近日推出NI TestStand ATML工具包，有效擴(kuò)展了測(cè)試系統(tǒng)部件的互通性，提升測(cè)試系統(tǒng)文件編制功能，幫助工程師們縮短了開發(fā)和維護(hù)的時(shí)間。自動(dòng)測(cè)試標(biāo)記語言(ATML)屬于IEEE標(biāo)準(zhǔn)，它包含了用以描述測(cè)試系統(tǒng)不同內(nèi)容的XML文檔格式。新款工具包在NI TestStand中可以支持ATML TestDescription標(biāo)準(zhǔn)，同時(shí)也提升了對(duì)ATML TestResults標(biāo)準(zhǔn)的支持?，F(xiàn)擁有標(biāo)準(zhǔn)服務(wù)項(xiàng)目有效期的用戶可以通過NI
- 關(guān)鍵字： NI 工具包 TestStand ATML
LM-STAR基于NI軟件測(cè)試系統(tǒng)節(jié)省百萬成本
- The Challenge: 針對(duì)計(jì)劃中超過3000架聯(lián)合攻擊戰(zhàn)斗機(jī)設(shè)計(jì)測(cè)試系統(tǒng)，從生產(chǎn)，環(huán)境應(yīng)力篩選到補(bǔ)給測(cè)試實(shí)現(xiàn)應(yīng)用。 The Solution: 設(shè)計(jì)支持航空電子測(cè)試系統(tǒng)集成的測(cè)試系統(tǒng)。使用NI TestStand及LabWindowsTM/CVI作為核心測(cè)試管理及ANSI C語言測(cè)試開發(fā)環(huán)境。 LM-STAR系統(tǒng)設(shè)置 "LM-STAR系統(tǒng)使用NI TestStand及LabWindows/CVI作為核心測(cè)試管理及ANSI C測(cè)試開發(fā)環(huán)境，能夠快速開發(fā)測(cè)試
- 關(guān)鍵字： NI 測(cè)試系統(tǒng) TestStand LabWindowsTM/CVI
NI發(fā)布測(cè)試管理軟件TestStand 4.0版
- 美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）最新發(fā)布了測(cè)試管理軟件TestStand 的最新4.0版本，旨在幫助工程師們更高效地開發(fā)和發(fā)布他們的自動(dòng)化驗(yàn)證和生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)。該版本的特點(diǎn)是增加了一個(gè)簡化的序列編輯器，從而縮短研發(fā)時(shí)間，并提高易用性。工程師們可以通過這一全新的序列編輯器輕松配置NI TestStand開發(fā)環(huán)境，以適應(yīng)高級(jí)系統(tǒng)的功能性要求，或者幫助新手更快地學(xué)習(xí)使用基本的軟件功能。使用這一序列編輯器中預(yù)裝的可復(fù)用步驟模版，工程師們可以非常容易地使用這一測(cè)試模板，在
- 關(guān)鍵字： NI TestStand 測(cè)量 測(cè)試
美國國家儀器新推出TestStand 3.5版
- 可集成LabVIEW 8和行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)XML工具 這一最新版本的測(cè)試管理軟件將極大簡化測(cè)試系統(tǒng)的配置 美國國家儀器有限公司（National Instruments）宣布推出TestStand 測(cè)試管理軟件3.5版本，為近期新推出的NI LabVIEW 8，以及需求管理工具和工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的基于XML的報(bào)告提供完美的集成。 工程師們可以使用NI TestStand 3.5快速設(shè)計(jì)、原型和發(fā)布在各種編程環(huán)境內(nèi)使用測(cè)試代碼模塊開發(fā)的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，這
- 關(guān)鍵字： TestStand
| 共15條 1/1 1 |
teststand介紹
您好，目前還沒有人創(chuàng)建詞條teststand!
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)teststand的理解，并與今后在此搜索teststand的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
歡迎您創(chuàng)建該詞條，闡述對(duì)teststand的理解，并與今后在此搜索teststand的朋友們分享。 創(chuàng)建詞條
teststand資料下載
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì)員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機(jī)EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權(quán)所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號(hào)-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473