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基于新型MEMS開關提高SoC測試能力及系統(tǒng)產(chǎn)出
- 先進的數(shù)字處理器IC要求通過單獨的DC參數(shù)和高速數(shù)字自動測試設備(ATE)測試，以達到質(zhì)保要求。這帶來了很大的成本和組織管理挑戰(zhàn)。本文將介紹ADGM1001 SPDT MEMS開關如何助力一次性通過單插入測試，以幫助進行DC參數(shù)測試和高速數(shù)字測試，從而降低測試成本，簡化數(shù)字/RF片上系統(tǒng)(SoC)的測試流程。圖1.操作員將負載板安裝到測試儀上，以測試數(shù)字SoC ATE挑戰(zhàn)半導體市場在不斷發(fā)展，為5G調(diào)制解調(diào)器IC、圖像處理IC和中央處理IC等先進的處理器提供速度更快、密度更高的芯片間通信。在這種
- 關鍵字： MEMS開關 SoC測試
應用混合游程編碼的SOC測試數(shù)據(jù)壓縮方法
- 提出了一種有效的基于游程編碼的測試數(shù)據(jù)壓縮/ 解壓縮的算法: 混合游程編碼, 它具有壓縮率高和相應解碼電路硬件開銷小的突出特點. 另外, 由于編碼算法的壓縮率和測試數(shù)據(jù)中不確定位的填充策略有很大的關系
- 關鍵字： SoC測試 數(shù)據(jù)壓縮 位填充 游程編碼
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soc測試介紹
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