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SOC的可測試性設計策略
- 1引言可測試設計(DFT)是適應集成電路的發(fā)展要求所出現的一種技術,主要任務是對電路的結構進行調整,提高電路的可測性,即可控制...
- 關鍵字: SOC可測試
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soc可測試介紹
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