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高精度與高功率密度齊頭并進，解鎖數(shù)據(jù)中心測試的未來藍圖
- 作者：是德科技產(chǎn)品營銷經(jīng)理Gobinath Tamil Vanan摘要為了滿足高速數(shù)據(jù)傳輸需求，數(shù)據(jù)中心蓬勃發(fā)展，在這個過程中光器件的作用變得越來越重要。實現(xiàn)電信號與光信號之間的高效轉(zhuǎn)換需要精確的測試解決方案，尤其是用于對高度集成的光器件執(zhí)行測試的解決方案。盡管這些器件的測試還面臨嚴峻挑戰(zhàn)，但已經(jīng)有一些創(chuàng)新的解決方案能夠提高測試效率和準確度。正文為了滿足高速數(shù)據(jù)傳輸需求，數(shù)據(jù)中心蓬勃發(fā)展，在這個過程中光器件的關鍵作用日益顯現(xiàn)。實現(xiàn)電信號與光信號之間的高效轉(zhuǎn)換需要精確的測試解決方案，尤其是能夠?qū)Ω叨燃傻墓?/li>
- 關鍵字： 是德科技 數(shù)據(jù)中心 源表模塊 SMU
【4200 SMU應用文章】之實例篇：支持千倍以上負載電容的靈敏測試
- 使用長電纜或電容夾頭的測試設置會增加測試儀器輸出的電容，導致測量結(jié)果不準確或不穩(wěn)定。當輸出或掃描直流電壓并測量異常靈敏的低電流時，能觀察到這種效應。為了應對這些挑戰(zhàn)，泰克為吉時利4200A-SCS參數(shù)分析儀引入了兩個新的源測量單元（SMU）模塊，即使在測試連接電容較高的應用中，該模塊也可以進行穩(wěn)定的低電流測量。節(jié)能的要求越來越高，這就需要越來越低的電流，這是一個日益嚴峻的測量挑戰(zhàn)，如測試智能手機或平板電腦的大型LCD面板。高電容測試連接可能會出現(xiàn)問題的應用，還包括：探卡上的納米FET I-V測量，使用長電
- 關鍵字： SMU 靈敏測試
新的吉時利電源允許高達10kV的安全擊穿測試
- 先進電氣測試儀器與系統(tǒng)的世界級領導者-吉時利儀器日前宣布，推出兩款優(yōu)化的高壓電源，用于高電壓的設備和材料測試，高能物理和材料科學研究。2290-5?5kV型電源和2290-10型?10kV電源非常適合于功率半導體器件的高電壓擊穿測試。包括由當前和下一代寬禁帶半導體材料組成的器件，例如碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)，專為“綠色”、高效節(jié)能發(fā)電、傳輸系統(tǒng)、混合動力和全電動汽車使用?！ ?290系列電源所擁有的許多內(nèi)置功能是市場上其他提供10kV電壓產(chǎn)品所不具備的。例如，作為標準配置
- 關鍵字： 吉時利 2290 SMU DUT
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