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J750測(cè)試系統(tǒng)穩(wěn)定性分析
- 張桂玉，任希慶（安普德（天津）科技股份有限公司，天津 300384） 摘 要：J750測(cè)試系統(tǒng)是一種超大規(guī)模邏輯及存儲(chǔ)器件測(cè)試系統(tǒng)。本文通過(guò)一系列的數(shù)據(jù)采集，同時(shí)應(yīng)用統(tǒng)計(jì)學(xué)的分析方法，借助于Minitab統(tǒng)計(jì)分析軟件，分別對(duì)采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行了分析，從而得到測(cè)試系統(tǒng)的一些性能參數(shù)，進(jìn)而可以分析出測(cè)試系統(tǒng)的穩(wěn)定性。通過(guò)這一系列分析后，可以找到影響生產(chǎn)率的各種因素，大大提高測(cè)試系統(tǒng)的工作效率，縮短產(chǎn)品的復(fù)測(cè)時(shí)間，提高良品率，提高測(cè)試的準(zhǔn)確率，進(jìn)而提高生產(chǎn)率?！ ￡P(guān)鍵詞：Minitab；J750；測(cè)試系統(tǒng)；
- 關(guān)鍵字： 202007 Minitab J750 測(cè)試系統(tǒng) 穩(wěn)定性
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