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基于PXI平臺(tái)的光電通信轉(zhuǎn)換器自動(dòng)化測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)
- 光電通信轉(zhuǎn)換器自動(dòng)化測試系統(tǒng)按照光纖模塊產(chǎn)品對(duì)外接口規(guī)范設(shè)計(jì)測試系統(tǒng)，采用基于PXI平臺(tái)的模塊化產(chǎn)品和分立式測試儀器相結(jié)合的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)，提供了對(duì)光纖模塊產(chǎn)品的接口通信功能和性能指標(biāo)的測試功能，可以完成不同產(chǎn)品的自動(dòng)化測試。
- 關(guān)鍵字： PXI平臺(tái) 模塊化 光纖模塊 自動(dòng)化測試 201712
NI將半導(dǎo)體ATE數(shù)字功能引入PXI平臺(tái)
- NI(美國國家儀器公司，National Instruments，簡稱NI) 作為致力于幫助工程師和科學(xué)家應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的平臺(tái)系統(tǒng)供應(yīng)商，今日宣布推出了NI PXle-6570基于圖形向量的數(shù)字通道板卡和NI數(shù)字圖形向量編輯器。
- 關(guān)鍵字： NI ATE PXI平臺(tái)
NI模塊擴(kuò)展PXI平臺(tái)的功能
- 美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)擴(kuò)展其PXI平臺(tái)的功能，通過新發(fā)布的每個(gè)引腳參數(shù)測量單元模塊(PPMU)和源測量單元模塊(SMU)用于半導(dǎo)體的特性描述和生產(chǎn)測試。NI PXIe-6556 200 MHz高速數(shù)字I / O具備PPMU， NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低資本設(shè)備成本，縮短測試時(shí)間，并提升各種測試設(shè)備的混合信號(hào)靈活性。
- 關(guān)鍵字： NI PXI平臺(tái)
NI擴(kuò)展PXI平臺(tái)的功能 降低半導(dǎo)體分析和測試成本
- 2011年8月——美國國家儀器有限公司(National Instruments，簡稱NI)擴(kuò)展其PXI平臺(tái)的功能，通過新發(fā)布的每個(gè)引腳參數(shù)測量單元模塊(PPMU)和源測量單元模塊(SMU)用于半導(dǎo)體的特性描述和生產(chǎn)測試。NI PXIe-6556 200 MHz高速數(shù)字I / O具備PPMU， NI PXIe- 4140和NI PXIe-4141四通道的SMU可降低資本設(shè)備成本，縮短測試時(shí)間，并提升各種測試設(shè)備的混合信號(hào)靈活性。 使用NI PXIe-6556高速數(shù)字I /
- 關(guān)鍵字： NI PXI平臺(tái) PPMU SMU
基于LabVIEW和PXI平臺(tái)的并聯(lián)機(jī)器人控制系統(tǒng)的開發(fā)
- 應(yīng)用領(lǐng)域：機(jī)器人運(yùn)動(dòng)控制挑戰(zhàn)：應(yīng)用成熟的NI系列產(chǎn)品快速構(gòu)建一套功能完善、性能優(yōu)越、人機(jī)界面友好的開放式多...
- 關(guān)鍵字： LabVIEW PXI平臺(tái) 并聯(lián)機(jī)器人控制
NI與BAE Systems、Phase Matrix公司共同發(fā)布26.5GHz PXI 綜合測試儀
- 2008年10月——美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）與BAE Systems公司、Phase Matrix公司于近日共同發(fā)布了一款針對(duì)軍事和商業(yè)射頻/微波應(yīng)用的、基于PXI平臺(tái)的下一代26.5GHz綜合測試儀。這款綜合測試儀通過整合模塊化硬件與平臺(tái)軟件來創(chuàng)建用戶自定義的測試測量系統(tǒng)，它屬于虛擬儀器的一個(gè)分支。新款綜合測試儀是以5個(gè)兼容3U PXI Express的射頻/微波下變頻模塊為基礎(chǔ)而設(shè)計(jì)的，它擁有從100kHz到26.5GHz的
- 關(guān)鍵字： PXI平臺(tái) NI Phase Matrix 射頻綜合測試儀
采用模塊化儀器構(gòu)建RFID測試系統(tǒng)
- 摘要： 本文主要介紹如何利用NI的優(yōu)勢技術(shù)，具體實(shí)現(xiàn)RFID測試系統(tǒng)的構(gòu)建。關(guān)鍵詞： RFID測試；PXI平臺(tái)；板載FPGA RFID測試需求及現(xiàn)狀作為無線通訊的新興領(lǐng)域之一，RFID技術(shù)在具有無線通訊技術(shù)所共有的特性之外，又有著其獨(dú)有的特殊性，其中最為重要的是標(biāo)準(zhǔn)的多樣化。國際上制定RFID標(biāo)準(zhǔn)的組織比較著名的有三個(gè)：ISO，美國的EPC global以及日本的Ubiquitous ID Center，目前已定義的RFID標(biāo)準(zhǔn)，包括工作頻率在低頻(120-134kHz)，高頻(13
- 關(guān)鍵字： 0701_A PXI平臺(tái) RFID測試 板載FPGA 測量 測試 雜志_技術(shù)長廊 模塊
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