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基于JTAG的調(diào)試器、接口及控制器等經(jīng)典設(shè)計匯總
- JTAG(JointTestActionGroup，聯(lián)合測試行動組)是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議(IEEE1149.1兼容)。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線——TMS、TCK、TDI、TDO，分別為模式選擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。JTAG的主要功能有兩種，一類用于測試芯片的電氣特性，檢測芯片是否有問題，另一類用于Debug，對各類芯片以及其外圍設(shè)備進(jìn)行調(diào)試。本文介紹基于JTAG的調(diào)試器及接口設(shè)計，供大家參考。 基于Flash和JTAG接口的FPGA多配置系統(tǒng) 本文選用大容
- 關(guān)鍵字： CPLD IEEE1149.1 CPU
基于IEEE1149．4的測試方法研究
- 根據(jù)混合信號邊界掃描測試的工作機(jī)制，提出了符合1149．4標(biāo)準(zhǔn)的測試方法，并用本研究室開發(fā)的混合信號邊界掃描測 ...
- 關(guān)鍵字： IEEE1149．4 測試方法
基于CPLD的IEEE1149.1 USB下載電纜設(shè)計
- 引言隨著片上系統(tǒng)(SoC，SystemonChip)時代的到來，包括復(fù)雜可編程邏輯器件(CPLD，ComplexProgrammab...
- 關(guān)鍵字： FPGA CPLD USB下載電纜 IEEE1149.1
嵌入式邊界掃描(05-100)
- 邊界掃描(IEEE1149.1)逐漸成為板級測試方法,新的開發(fā)使此技術(shù)吸引著嵌入式和系統(tǒng)級測試以及系統(tǒng)內(nèi)編程操作的注意。隨著邊界掃描步入其第2個十年,新的使人興奮的前景即將出現(xiàn)。
- 關(guān)鍵字： 測試測量 IEEE1149.1
邊界掃描測試技術(shù)(04-100)
- 最近出現(xiàn)的系統(tǒng)級接口器件，為設(shè)計人員把用于制造測試的邊界掃描測試從板級擴(kuò)展到系統(tǒng)級提供了靈活條件。 擴(kuò)展到系統(tǒng)級的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)是提供單點(diǎn)接入到多掃描鏈，以支持隔離的診斷能力。這可以用于CPLD和FPGA系統(tǒng)內(nèi)配置的最佳化，以及編程閃存時存儲器讀/寫周期的最佳化。 它也支持板到板內(nèi)連測試(用于背投內(nèi)連失效診斷)到端口連接器引腳級。另一個優(yōu)點(diǎn)是在產(chǎn)品裝運(yùn)前提供系統(tǒng)測試，這包括固件檢驗和簡化固件更新。 擴(kuò)展邊界掃描到系統(tǒng)級提供執(zhí)行嵌入式測試結(jié)構(gòu)(即器件級BIST)的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)，這可在EPGA、A
- 關(guān)鍵字： 嵌入式 IEEE1149.1
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