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解讀FinFET存儲(chǔ)器的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)以及測試和修復(fù)方法
- 同任何IP模塊一樣，存儲(chǔ)器必須接受測試。但與很多別的IP模塊不同，存儲(chǔ)器測試不是簡單的通過/失敗檢測。存儲(chǔ)器通常都設(shè)計(jì)了能夠用來應(yīng)對(duì)制程缺陷的冗
- 關(guān)鍵字： STAR存儲(chǔ)器 FinFET存儲(chǔ)器 SOC
FinFET存儲(chǔ)器的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)以及測試和修復(fù)方法
- FinFET存儲(chǔ)器的設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)以及測試和修復(fù)方法-現(xiàn)在，隨著FinFET存儲(chǔ)器的出現(xiàn)，需要克服更多的挑戰(zhàn)。這份白皮書涵蓋：FinFET存儲(chǔ)器帶來的新的設(shè)計(jì)復(fù)雜性、缺陷覆蓋和良率挑戰(zhàn)；怎樣綜合測試算法以檢測和診斷FinFET存儲(chǔ)器具體缺陷；如何通過內(nèi)建自測試（BIST）基礎(chǔ)架構(gòu)與高效測試和維修能力的結(jié)合來幫助保證FinFET存儲(chǔ)器的高良率。
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