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            原子級(jí)工藝實(shí)現(xiàn)納米級(jí)圖形結(jié)構(gòu)的要求

            • 原子層刻蝕和沉積工藝?yán)米韵扌苑磻?yīng),提供原子級(jí)控制。泛林集團(tuán)先進(jìn)技術(shù)發(fā)展事業(yè)部公司副總裁潘陽博士?分享了他對(duì)這個(gè)話題的看法。圖 1.?原子層工藝中的所有半周期反應(yīng)是自限性反應(yīng)。技術(shù)節(jié)點(diǎn)的每次進(jìn)步都要求對(duì)制造工藝變化進(jìn)行更嚴(yán)格的控制。最先進(jìn)的工藝現(xiàn)在可以達(dá)到僅7 nm的fin寬度,比30個(gè)硅原子稍大一點(diǎn)。半導(dǎo)體制造已經(jīng)跨越了從納米級(jí)到原子級(jí)工藝的門檻。工程師現(xiàn)在必須關(guān)注結(jié)構(gòu)的尺寸變化,僅相當(dāng)于幾個(gè)原子大小。由于多重圖案模式等復(fù)雜集成增加了工藝數(shù)量,進(jìn)一步限制了每個(gè)步驟允許的變化。3D N
            • 關(guān)鍵字: ALE  ALD  CER  EPE  SAC  CAR  

            高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器的轉(zhuǎn)換誤差率的解密

            •   高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)存在一些固有限制,使其偶爾會(huì)在其正常功能以外產(chǎn)生罕見的轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤。但是,很多實(shí)際采樣系統(tǒng)不容許存在高ADC轉(zhuǎn)換誤差率。因此,量化高速模數(shù)轉(zhuǎn)換誤差率(CER)的頻率和幅度非常重要?! 「咚倩騁SPS ADC(每秒千兆采樣ADC)相對(duì)稀疏出現(xiàn)的轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤不僅造成其難以檢測(cè),而且還使測(cè)量過程非常耗時(shí)。該持續(xù)時(shí)間通常超出毫秒范圍,達(dá)到幾小時(shí)、幾天、幾周甚至是幾個(gè)月。為了幫助消減這一耗時(shí)測(cè)試負(fù)擔(dān),可以在一定“置信度”的確定性情況下估算誤差率,而仍然保持結(jié)果的質(zhì)量?! ≌`碼率(BER
            • 關(guān)鍵字: ADC  CER  
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            cer介紹

            目錄 1 CER 2 相關(guān)術(shù)語 3 數(shù)字證書的原理 4 數(shù)字證書 CER-CER 用于存儲(chǔ)公鑰證書的文件格式。 CER-相關(guān)術(shù)語 公鑰和私鑰就是俗稱的不對(duì)稱加密方式,是從以前的對(duì)稱加密(使用用戶名與密碼)方式的提高。用電子郵件的方式說明一下原理。 使用公鑰與私鑰的目的就是實(shí)現(xiàn)安全的電子郵件,必須實(shí)現(xiàn)如下目的: 1.我發(fā) [ 查看詳細(xì) ]

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