atpg 文章 進入atpg技術社區(qū)
低功耗制造性測試的設計-第二部分
- 假設設計的某個時鐘驅動了大量觸發(fā)器，以至它們的峰值開關動作超過設計的總體功率預算。我們不希望測試邏輯去改變?nèi)魏螘r鐘，相反我們將設計分割成N個模塊，各模塊具有自己的掃描啟動引腳，并且包含自己的掃描壓縮邏輯和掃描鏈。(如圖2所示)模塊的數(shù)量和組成需要仔細選取，以便任何單個模塊(包括具有大部分觸發(fā)器的模塊)的觸發(fā)器開關速率不超過總功率預算。從這方面講，可以認為分割將功率預算硬連(hardwire)進了設計。
- 關鍵字： ATPG 數(shù)字電路設計 SoC DFT
低功耗制造測試的設計-第一部分
- 完全的數(shù)字電路測試方法通常能將動態(tài)功耗提高到遠超出其規(guī)范定義的范圍。如果功耗足夠大，將導致晶圓檢測或預老化(pre-burn-in)封裝測試失效，而這需要花大量的時間和精力去調(diào)試。當在角落條件(corner conditions)下測試超大規(guī)模SoC時這個問題尤其突出，甚至會使生產(chǎn)線上出現(xiàn)不必要的良率損失，并最終減少制造商的毛利。避免測試功耗問題的最佳途徑是在可測試性設計(DFT)過程中結合可感測功率的測試技術。本文將首先介紹動態(tài)功耗與測試之間的關系，以說明為何功率管理現(xiàn)在比以往任何時候都迫切；然后介紹兩
- 關鍵字： ATPG DFT 數(shù)字電路測試
微捷碼發(fā)表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX
- 捷碼(Magma)設計自動化公司發(fā)表有片上掃描鏈壓縮功能的Talus ATPG與Talus ATPGX。這些先進的自動測試向量生成(ATPG) 產(chǎn)品使設計師能明顯改進測試質量, 減少周轉時間并且降低納米級芯片 的成本。藉由整合Talus ATPG 和Talus ATPGX進 入Talus 物理設計環(huán)境, 微捷碼提供唯一真正實現(xiàn)物理相關DFT(Physically Aware DFT™)的IC 實現(xiàn)流程。 今天芯片設計的復雜度和更小的尺寸使測試制作的IC更加復雜。新的失效機制不斷涌現(xiàn)。
- 關鍵字： 消費電子 捷碼 ATPG ATPGX 消費電子
| 共6條 1/1 1 |
關于我們 -
廣告服務 -
企業(yè)會員服務 -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473